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  1. Fang, Jiaru ; Zhang, Meng ; et al.
    In: Journal of Materials Chemistry B, Jg. 8 (2020), S. 7609-7632
    Online unknown
  2. Chen, Hui-Jiuan ; Jin, Quanchang ; et al.
    In: ACS applied materialsinterfaces, Jg. 11 (2019-01-11), Heft 5
    Online unknown
  3. Zhao, Xin ; Fitzgerald, Eugene A. ; et al.
    2018
    Online unknown
  4. Huang, Weixing ; Jia, Kunpeng ; et al.
    In: Semiconductor Science and Technology, Jg. 35 (2020-07-13), S. 085018-85018
    Online unknown
  5. Jung, Hye-Mi ; Um, Sukkee
    In: Thin Solid Films, Jg. 606 (2016-05-01), S. 87-93
    Online unknown
  6. Young Keun Kim ; Nam Hyuk Cho ; et al.
    In: Nanoscale, Jg. 9 (2017-10-05), Heft 40
    Online unknown
  7. Sanjeev Kumar Manhas ; Maheshwaram, S. ; et al.
    2017
    Online unknown
  8. Koyama, Takayuki ; Takeuchi, Akihisa ; et al.
    In: physica status solidi (a), Jg. 214 (2017-09-01), S. 1700285-1700285
    Online unknown
  9. Zhao, Xin ; Jesus A. del Alamo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-05-01), S. 2161-2165
    Online unknown
  10. In Man Kang ; Lee, Jung-Hee ; et al.
    In: Current Applied Physics, Jg. 16 (2016-07-01), S. 681-685
    Online unknown
  11. Rosseel, Erik ; Ryckaert, Julien ; et al.
    In: 2016 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2016-06-01
    Online unknown
  12. Guerfi, Youssouf ; Larrieu, Guilhem ; et al.
    In: Nanoscale Research Letters, Jg. 11, Heft 1
    Online unknown
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
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