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    Electrical characterization of AMS aH18 HV-CMOS after neutrons and protons irradiation
    Sultan, Dms ; Weber, Marc ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, 2019
    Online unknown
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    Neutron induced noise degradation of ASICs in 350 nm CMOS technology
    Yaoguang, Liu ; Ying, Zhang ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 15 (2020-10-19), S. T10005
    Online unknown
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    Monolithic pixel development in TowerJazz 180 nm CMOS for the outer pixel layers in the ATLAS experiment
    Musa, Luciano ; Rousset, Jerome ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, 2018
    Online unknown
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    Test beam measurement of ams H35 HV-CMOS capacitively coupled pixel sensor prototypes with high-resistivity substrate
    M. Vicente Barrero Pinto ; Kiehn, Moritz ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, 2018
    Online unknown
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    Radiation induced degradation in a 150-nm CMOS SPADs device
    Sarnelli, Ettore ; Campajola, M. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 15 (2020-08-17), S. C08017
    Online unknown
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    Cryogenic characterization of 180 nm CMOS technology at 100 mK
    Gnani, Dario ; Grace, Carl ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 15 (2020-06-23), S. P06026
    Online unknown
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    Radiation hard DMAPS pixel sensors in 150 nm CMOS technology for operation at LHC
    Schwemling, Ph. ; Hügging, Fabian ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 15 (2020-05-22), S. P05013
    Online unknown
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    Progress on the radiation tolerance of CMOS Monolithic Active Pixel Sensors
    Deveaux, Michael
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 14 (2019-11-05), S. R11001
    Online unknown
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    Micrometric laser characterization of a 300μm fully-depleted monolithic active pixel sensor in standard 110 nm CMOS technology
    Giampaolo, R. A.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 15 (2020-06-24), S. C06052
    Online unknown
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Development of FELIX based readout system for HV-CMOS sensor testbeam
    M. Vicente Barrero Pinto ; Chen, Kai ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 14 (2019-01-10), S. P01013
    Online unknown
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    An ultra-low noise cryogenic CMOS charge sensitive preamplifier for large volume point-contact HPGe detectors
    Yue, Qian ; Liu, Feng ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 13 (2018-08-22), S. P08019
    Online unknown
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Characterization of the prototype CMOS pixel sensor JadePix-1 for the CEPC vertex detector
    Shi, X. ; Zhou, Yu-Guang ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 14 (2019-05-29), S. C05023
    Online unknown
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    Study of full parallel RS(31,27) encoder for a 3.2 Gbps serial transmitter in 0.18 μm CMOS technology
    You, Bihui ; Wang, Jianxin ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 14 (2019-02-22), S. P02028
    Online unknown
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Study of the depletion depth in a frontside biased CMOS pixel sensors
    Dorokhov, Andrei ; Baudot, J. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 14 (2019-01-17), S. P01018
    Online unknown
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Charge collection characterisation with the Transient Current Technique of the ams H35DEMO CMOS detector after proton irradiation
    Golling, Tobias ; Kiehn, Moritz ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 13 (2018-10-01), S. P10004
    Online unknown
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    Report on recent activities in HV-CMOS detectors for Mu3e, ATLAS and RD50
    Alonso, Oscar ; Vossebeld, Joost ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 13 (2018-07-16), S. C07002
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Characterization of pixel sensor designed in 180 nm SOI CMOS technology
    Tomasek, L. ; Janoska, Z. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 13 (2018-01-19), S. C01025
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    First results on DEPFET Active Pixel Sensors fabricated in a CMOS foundry—a promising approach for new detector development and scientific instrumentation
    Majewski, P. ; Holl, P. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 12 (2017-11-16), S. P11013
    Online unknown
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Radiation-hard Active Pixel Sensors for HL-LHC Detector Upgrades based on HV-CMOS Technology
    Miucci, A ; Gonella, L ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 9 (2014-05-30), S. C05064
    Online unknown
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    Investigation of CMOS pixel sensor with 0.18 μm CMOS technology for high-precision tracking detector
    Zhang, Y. ; Yan, W. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 12 (2017-01-02), S. C01011
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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