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    Bias temperature instability in scaled CMOS technologies: A circuit perspective
    Kerber, Andreas ; Nigam, T.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 81 (2018-02-01), S. 31-40
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    A 42-Gb/s VCSEL Driver Suitable for Burst Mode Operation in 14-nm Bulk CMOS
    Ellinger, Frank ; Khafaji, Mahdi ; et al.
    In: IEEE Photonics Technology Letters, Jg. 30 (2018), S. 23-26
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    Investigation on NBTI-induced dynamic variability in nanoscale CMOS devices: Modeling, experimental evidence, and impact on circuits
    Wang, Yangyuan ; Ren, Pengpeng ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 81 (2018-02-01), S. 101-111
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    CMOS-Compatible Contacts to n-InP
    Sagnes, Isabelle ; Jeremy Da Fonseca ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-11-01), S. 4408-4414
    Online unknown
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    Exploration of robustness limits and ESD EMI impact in a protection device for advanced CMOS technology
    Schoenmaker, Wim ; Galy, Philippe
    In: Microelectronics Reliability, 2017-09-01, S. 680-684
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    Enabling robust automotive electronic components in advanced CMOS nodes
    Huard, Vincent ; Bravaix, Alain ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, 2017-09-01, S. 13-24
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    Linearized differential current sensor in low-voltage CMOS
    Naudé, Neil ; Sinha, Saurabh
    In: Microelectronics International, Jg. 34 (2017-05-02), S. 91-98
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    Comprehensive understanding of dark count mechanisms of single-photon avalanche diodes fabricated in deep sub-micron CMOS technologies
    Xu, Yux ; Xiang, Ping ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 129 (2017-03-01), S. 168-174
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    Aging comparative analysis of high-performance FinFET and CMOS flip-flops
    Rahebeh Niaraki Asli ; Taghipour, Shiva
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 69 (2017-02-01), S. 52-59
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    A 0.008-mm2, 35-μW, 8.87-ps-resolution CMOS time-to-digital converter using dual-slope architecture
    Yeo Myung Kim ; Tae Wook Kim ; et al.
    In: International Journal of Circuit Theory and Applications, Jg. 45 (2016-10-06), S. 466-482
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Design of embedded SCR device to improve ESD robustness of stacked-device output driver in low-voltage CMOS technology
    Yan Lian Chiu ; Lin, Chun-Yu
    In: Solid-State Electronics, Jg. 124 (2016-10-01), S. 28-34
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Research on the effect of single-event transient of an on-chip linear voltage regulator fabricated on 130 nm commercial CMOS technology
    Liang, Bin ; Yang, GuoQing ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 73 (2017-06-01), S. 116-121
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    An affordable experimental technique for SRAM write margin characterization for nanometer CMOS technologies
    Carmona, Cristian ; Alorda, Bartomeu ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 65 (2016-10-01), S. 280-288
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Threshold voltage extraction techniques adaptable from sub-micron CMOS to large-area oxide TFT technologies
    Samanta, Smrutilekha ; Barquinha, Pedro ; et al.
    In: International Journal of Circuit Theory and Applications, Jg. 45 (2017-04-05), S. 2201-2210
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    Design and Analysis of Scalability in Current-Mode Analog-to-Time Converter for an Energy-Efficient and High-Resolution CMOS Biosensor Array
    Ikeda, Kei ; Kobayashi, Atsuki ; et al.
    In: IEICE Transactions on Electronics, 2017, S. 597-601
    Online unknown
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A 1.9GHz Low-Phase-Noise Complementary Cross-Coupled FBAR-VCO without Additional Voltage Headroom in 0.18µm CMOS Technology
    Esashi, Masayoshi ; Tanaka, Shuji ; et al.
    In: IEICE Transactions on Electronics, 2017, S. 363-369
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A Current-Integration-Based CMOS Amperometric Sensor with 1024 × 1024 Bacteria-Sized Microelectrode Array for High-Sensitivity Bacteria Counting
    Nakazato, Kazuo ; Gamo, Kohei ; et al.
    In: IEICE Transactions on Electronics, 2017, S. 602-606
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    A Single-ended Simultaneous Bidirectional Transceiver in 65-nm CMOS Technology
    Jeon, Min-Ki ; Yoo, Changsik
    In: JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science, Jg. 16 (2016-12-30), S. 817-824
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Recent Developments and Design Challenges of High-Performance Ring Oscillator CMOS Time-to-Digital Converters
    Cheng, Zeng ; Zheng, Xiaoqing ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), S. 235-251
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    Range-Scaled 14b 30 MS/s Pipeline-SAR Composite ADC for High-Performance CMOS Image Sensors
    Lee, Seung-Hoon ; Ahn, Gil-Cho ; et al.
    In: JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science, Jg. 16 (2016-02-28), S. 70-79
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