Zum Hauptinhalt springen

Suchergebnisse

UB Katalog
Ermittle Trefferzahl…

Artikel & mehr
242 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Schlagwort

Verlag

Publikation

Sprache

242 Treffer

Sortierung: 
  1. Hongchuang, Tan ; Lingli, Jiang ; et al.
    In: Shock and Vibration, Jg. 2021 (2021)
    Online unknown
  2. Schadt, Martin
    In: Molecular Crystals and Liquid Crystals, Jg. 647 (2017-04-13), S. 253-268
    Online unknown
  3. Vaschenko, Georgiy O. ; Purvis, Michael ; et al.
    In: Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography VIII, 2017-05-05
    Online unknown
  4. Abe, T. ; Nagai, S. ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2017-01-13
    Online unknown
  5. Ueno, Yoshifumi ; Hori, Tsukasa ; et al.
    In: International Conference on Extreme Ultraviolet Lithography 2017, 2017-10-16
    Online unknown
  6. Hori, Tsukasa ; Kawasuji, Yasufumi ; et al.
    In: International Conference on Extreme Ultraviolet Lithography 2017, 2017-10-16
    Online unknown
  7. Ito, Keisuke ; Higashiguchi, Takeshi ; et al.
    In: Microscopy and Microanalysis, Jg. 24 (2018-08-01), S. 214-215
    Online unknown
  8. Fujimoto, Junichi ; Mizoguchi, Hakaru ; et al.
    In: Optics letters, Jg. 41 (2016-07-02), Heft 13
    Online unknown
  9. Okamoto, Takeshi ; Hori, Tsukasa ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2017-03-24
    Online unknown
  10. Sunahara, Atushi ; Nishikawa, Takeshi ; et al.
    In: Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography VII, 2016-03-18
    Online unknown
  11. Rollinger, Bob ; Abreau, F. ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2015-03-19
    Online unknown
  12. Yamazaki, Taku ; Kodama, Takeshi ; et al.
    In: Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography VII, 2016-03-18
    Online unknown
  13. Shlyaptsev, Vyacheslav N. ; Reagan, Brendan A. ; et al.
    In: Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography VII, 2016-03-18
    Online unknown
  14. O'Reilly, Fergal ; Dunne, Padraig ; et al.
    In: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, Jg. 482 (2020-11-01), S. 64-69
    Online unknown
  15. Olszewska, Malgorzata ; Czuwara, Joanna ; et al.
    In: Skin Research and Technology, Jg. 27 (2020-08-02), S. 266-271
    Online unknown
  16. Lee, Taegeon ; Rho, Heesuk ; et al.
    In: Current Applied Physics, Jg. 19 (2019-10-01), S. 1132-1135
    Online unknown
  17. Baelde, Maxime ; Greff, Raphaël ; et al.
    In: Pattern Recognition, Jg. 92 (2019-08-01), S. 82-92
    Online unknown
  18. Meng, Xiang ; Wendi, Wang ; et al.
    In: Textile Research Journal, Jg. 89 (2018-12-28), S. 3752-3767
    Online unknown
  19. Żaba, Ryszard ; Adamski, Zygmunt ; et al.
    In: Skin research and technology : official journal of International Society for Bioengineering and the Skin (ISBS) [and] International Society for Digital Imaging of Skin (ISDIS) [and] International Society for Skin Imaging (ISSI)REFERENCES, Jg. 27 (2020-12-14), Heft 5
    Online unknown
  20. Doumun, Solange ; Dabo, Sophie ; et al.
    In: Journal of Spectral Imaging, 2020-09-09
    Online unknown
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -