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    Nanowire Array-based MOSFET for Future CMOS Technology to Attain the Ultimate Scaling Limit
    Bhol, Krutideepa ; Nanda, Umakanta
    In: Silicon, Jg. 14 (2021-01-07), S. 1169-1177
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    Efficient detection of transistor stuck-on faults in CMOS circuits using low-overhead single-ended ring oscillators
    Roy, Apratim ; S. M. Ishraqul Huq ; et al.
    In: Journal of Computational Electronics, Jg. 19 (2020-07-27), S. 1685-1694
    Online unknown
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    Performance Assessment of CMOS circuits using III-V on Insulator MOS Transistors
    Pandit, Soumya ; Subir Kumar Maity
    In: Silicon, Jg. 13 (2020-07-13), S. 1939-1949
    Online unknown
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    A 0.6 V 117 nW high performance energy efficient system-on-chip (SoC) CMOS temperature sensor in 0.18 µm CMOS for aerospace applications
    Vishwanthan, Vedam ; Nath, Vijay ; et al.
    In: Microsystem Technologies, Jg. 25 (2018-08-30), S. 2301-2311
    Online unknown
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    60 pW 20 μm size CMOS implementation of an actual soma membrane
    Huderek, Damian ; Szczęsny, Szymon
    In: Journal of Computational Electronics, Jg. 19 (2019-12-11), S. 242-252
    Online unknown
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    Ab initio perspective of ultra-scaled CMOS from 2D-material fundamentals to dynamically doped transistors
    Afzalian, Aryan
    In: npj 2D Materials and Applications, Jg. 5 (2021-01-04)
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    Ternary input signal to binary bit output conversion CMOS integrated circuit design using neuron MOSFETs
    Srivastava, Ashok
    In: Microsystem Technologies, Jg. 28 (2019-04-26), S. 101-108
    Online unknown
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    Validation of a CMOS-MEMS accelerometer based on FGMOS transduction by electromechanical modification of its coupling coefficient
    Griselda Stephany Abarca-Jimenez ; Miguel Angel Aleman-Arce ; et al.
    In: Microsystem Technologies, Jg. 25 (2019-03-29), S. 4163-4171
    Online unknown
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    Optimal design of a 5.5-GHz low-power high-gain CMOS LNA using the flower pollination algorithm
    Ghosh, Sumalya ; Mandal, Durbadal ; et al.
    In: Journal of Computational Electronics, Jg. 18 (2019-03-14), S. 737-747
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    A cryo-CMOS chip that integrates silicon quantum dots and multiplexed dispersive readout electronics
    Ruffino, Andrea ; Yang, Tsung-Yeh ; et al.
    In: Nature Electronics, Jg. 5 (2021-12-27), S. 53-59
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    Low power and high speed design issues of CMOS Hamming code generation and error detection circuit at 22 nm and 16 nm channel length of MOS transistor
    Sarkar, Angsuman ; De, Debashis ; et al.
    In: Microsystem Technologies, Jg. 27 (2018-09-22), S. 601-612
    Online unknown
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    Silicon nanowire CMOS NOR logic gates featuring one-volt operation on bendable substrates
    Kim, Sangsig ; Moon, Jeongje ; et al.
    In: Nano Research, Jg. 11 (2018-05-01), S. 2625-2631
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Reliability of Metal Gate / High-k devices and its impact on CMOS technology scaling
    Kerber, Andreas
    In: MRS Advances, Jg. 2 (2017-07-25), S. 2973-2982
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    Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) reliability analysis of CMOS analog and radio frequency (RF) circuits
    Mustafa Berke Yelten ; Mustafa Tarık Saniç
    In: Analog Integrated Circuits and Signal Processing, Jg. 97 (2018-06-23), S. 39-47
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Optimum power supply for minimum energy in nano-CMOS circuits
    Kabbani, A.
    In: Electrical Engineering, Jg. 100 (2017-05-09), S. 741-747
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Integrated 0–30 V switching driver circuit fabricated by mesa isolation postprocess of standard 5 V CMOS LSI for MEMS actuator applications
    Okamoto, Yuki ; Mita, Yoshio
    In: Microsystem Technologies, Jg. 24 (2017-04-24), S. 503-510
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Radiation-Induced Fault Simulation of SOI/SOS CMOS LSI’s Using Universal Rad-SPICE MOSFET Model
    Lvov, Boris G. ; Sambursky, Lev M. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 33 (2017-01-10), S. 37-51
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Design of inductively degenerated common source RF CMOS Low Noise Amplifier
    Gomathi, M ; Malathi, D.
    In: Sādhanā, Jg. 44 (2018-12-10)
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    CMOS Integrated Lock-in Readout Circuit for FET Terahertz Detectors
    Perenzoni, Daniele ; Perenzoni, Matteo ; et al.
    In: Journal of Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves, Jg. 38 (2017-02-25), S. 679-688
    Online unknown
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    An SEU-Resilient SRAM Bitcell in 65-nm CMOS Technology
    Chen, Li ; Zhao, Xing ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 32 (2016-04-29), S. 385-391
    Online unknown
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