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    The (1-x)Ba0.85Ca0.15Zr0.08Ti0.92 —xGe lead-free ceramics with high piezoelectric activity and ultrahigh dielectric constant
    Peng, Shiqiang ; Cai, Enpei ; et al.
    In: Ceramics International, Jg. 45 (2019), S. 1416-1419
    Online unknown
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    Nickle Concentration Effect on Low Magnetic Field Magnetocaloric Properties for Ni2+xMn1−xGe
    Hamad, Mahmoud A. ; El-Sayed, Adly H.
    In: Journal of Superconductivity and Novel Magnetism, Jg. 32 (2018-08-28), S. 1447-1450
    Online unknown
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    Low Thermal Conductivity of Bulk Amorphous Si1−xGe x Containing Nano-Sized Crystalline Particles Synthesized by Ball-Milling Process
    Ikeda, Hiroya ; Santhanakrishnan, Harish ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 47 (2018-02-05), S. 3260-3266
    Online unknown
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    Impact of Channel, Stress-Relaxed Buffer, and S/D Si1−xGe x Stressor on the Performance of 7-nm FinFET CMOS Design with the Implementation of Stress Engineering
    Othman, N. A. F. ; Sharifah Wan Muhamad Hatta ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 47 (2018-01-16), S. 2337-2347
    Online unknown
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    Electrochemical corrosion and electrochemical migration of 64Sn-35Bi-1Ag solder doping with xGe on printed circuit boards
    Hou, H.N. ; Hua, L.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 75 (2017-08-01), S. 27-36
    Online unknown
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    Growth of Epitaxial ZnSn_xGe_(1−x)N_2 Alloys by MBE
    Atwater, Harry A. ; Shing, Amanda M. ; et al.
    2017
    Online unknown
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    Surface roughening of undoped and in situ B-doped SiGe epitaxial layers deposited by using reduced pressure chemical vapor deposition
    Kim, Youngmo ; Park, Jiwoo ; et al.
    In: Journal of the Korean Physical Society, Jg. 72 (2018), S. 101-106
    Online unknown
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    Effects of Ge4+ acceptor dopant on sintering and electrical properties of (K0.5Na0.5)NbO3 lead-free piezoceramics
    Chen, Kepi ; Jiao, Yanlin
    In: Frontiers of Materials Science, Jg. 11 (2017-01-26), S. 59-65
    Online unknown
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    Atomistic modelling of diamond-type SixGeyCzSn1−x−y−z crystals for realistic transmission electron microscopy image simulations
    Guedj, Cyril ; Redon, Stephane ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 126 (2019-07-21), S. 035105-35105
    Online unknown
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    Effects of Ge on Microstructure, Spreadability, and Mechanical Properties of the Sn-32Pb-18Cd Solder Alloy
    Lin, Jian ; Lei, Yongping ; et al.
    In: Journal of Materials Engineering and Performance, Jg. 29 (2020-07-01), S. 4541-4548
    Online unknown
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    Mg2BIV: Narrow Bandgap Thermoelectric Semiconductors
    Kim, Il-Ho
    In: Journal of the Korean Physical Society, Jg. 72 (2018-05-01), S. 1095-1109
    Online unknown
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    Optical and electronic properties of orthorhombic and trigonal AXO(3) (A=Cd, Zn; X=Sn, Ge): First principle calculation
    Mamedov, Amirullah M. ; Ozisik, Haci ; et al.
    2016
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    Impacts of doping on epitaxial germanium thin film quality and Si-Ge interdiffusion
    Chuan Seng Tan ; Zhang, Qiang ; et al.
    In: Optical Materials Express, Jg. 8 (2018-04-03), S. 1117-1117
    Online unknown
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    Driving higher magnetic field sensitivity of the martensitic transformation in MnCoGe ferromagnet
    Wang, L. Y. ; You Wei Du ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 111 (2017-11-06), S. 192406-192406
    Online unknown
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    A comparative 1/f noise study of GeOI wafers obtained by the Ge enrichment technique and the Smart Cut technology
    J. El Husseini ; Bawedin, Maryline ; et al.
    2011
    Online unknown
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