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    Characterization studies of NiO:K anode buffer layer in Alq3 and TADF-based organic light-emitting diodes by secondary ion mass spectrometry and admittance spectroscopy
    Po Ching Kao ; Malvin ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 158 (2019-08-01), S. 85-91
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    Growth competition between layer-type and porous-type Cu 3 Sn in microbumps
    Cheng Cheng Chiang ; Yi Ting Chen ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 79 (2017-12-01), S. 32-37
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    Piezoelectric peristaltic micropump integrated on a microfluidic chip
    Ma, Tuo ; Sun, Shixin ; et al.
    In: Sensors and Actuators A: Physical, Jg. 292 (2019-06-01), S. 90-96
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    Structural and optical properties of porous ZnO nanorods synthesized by a simple two-step method
    Huali, Ma ; Duan, Xiangyang ; et al.
    In: Superlattices and Microstructures, Jg. 128 (2019-04-01), S. 30-36
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    Research on performance of an integrated component with the three-electrode planar switch and the exploding foil bridge
    Qin, Guosheng ; Li, Jiao ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 92 (2019), S. 27-33
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    Effects of series resistance and interface properties on the operation of AlGaN/GaN high electron mobility transistors
    Koh, Yumin ; Kyung Ho Park ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 199 (2018-11-01), S. 40-44
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    On the polarization effect of the p-EBL/p-AlGaN/p-GaN structure for AlGaN-based deep-ultraviolet light-emitting diodes
    Kou, Jianquan ; Fang, Mengqian ; et al.
    In: Superlattices and Microstructures, Jg. 122 (2018-10-01), S. 280-285
    Online unknown
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    Electrical characterization studies and doping effects of rubidium carbonate in organic layer by admittance spectroscopy
    Ming Chi Li ; Ya Han Liu ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 148 (2018-10-01), S. 1-6
    Online unknown
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    Statistical analysis of characteristic of ageing precursor of IGBT based on synthetic effect of multi-physical fields
    Liu, Fang ; Zhan, Mingyue ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, 2018-09-01, S. 75-79
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    Modeling of an 8–12 GHz receiver front-end based on an in-line MEMS frequency discriminator
    Chu, Chenlei ; Liao, Xiaoping
    In: Solid-State Electronics, Jg. 144 (2018-06-01), S. 54-59
    Online unknown
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    Ferroelectric of HfO 2 dielectric layer sputtered with TiN or ZrN for sandwich-like metal-insulator-metal capacitors
    Wang, H.W. ; Lin, King-Chuen ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 83 (2018-04-01), S. 242-248
    Online unknown
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    On the AlxGa1-xN/AlyGa1-yN/AlxGa1-xN (x>y) p-electron blocking layer to improve the hole injection for AlGaN based deep ultraviolet light-emitting diodes
    Fang, Mengqian ; Zhang, Zi-Hui ; et al.
    In: Superlattices and Microstructures, Jg. 113 (2018), S. 472-477
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Non-recovery moisture sensor for breach integrity using the degenerate mode of planar microwave ring resonator
    Chu, Marco ; Seyi Stephen Olokede ; et al.
    In: Sensors and Actuators A: Physical, Jg. 328 (2021-09-01), S. 112775-112775
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Significantly enhanced NO2 gas-sensing performance of nanojunction-networked SnO2 nanowires by pulsed UV-radiation
    Tran Khoa Dang ; Hoang Si Hong ; et al.
    In: Sensors and Actuators A: Physical, Jg. 327 (2021-08-01), S. 112759-112759
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Cost-effective technique to fabricate a tubular through-hole anodic aluminum oxide membrane using one-step anodization
    Chien, Yu-Chin ; Huei Chu Weng
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 247 (2021-07-01), S. 111589-111589
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Improved reliability characteristics of Ge MOS devices by capping Hf or Zr on interfacial layer
    Gu, Zhao-Chen ; Li, Chen-Chien ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 79 (2017-12-01), S. 136-139
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Effects of Ag addition and Ag 3 Sn formation on the mechanical reliability of Ni/Sn solder joints
    Sohn, Yoonchul ; Park, Sung-Hoon ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 75 (2017-08-01), S. 53-58
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Modeling nonlinear moisture diffusion in inhomogeneous media
    Chen, Liangbiao ; Zhou, Jiang ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 75 (2017-08-01), S. 162-170
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Study on mobile hole generation in blend MoO 3 :CuPc by capacitance-voltage method
    Pei, Y. ; Chu, Ming ; et al.
    In: Organic Electronics, Jg. 46 (2017-07-01), S. 121-125
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    High-resistivity sol-gel ITO thin film as an interfacial buffer layer for bulk heterojunction organic solar cells
    Li Yin Chen ; Lai, S.W. ; et al.
    In: Organic Electronics, Jg. 46 (2017-07-01), S. 99-104
    Online unknown
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