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    A comparative study of stability of switching voltage of CMOS inverters over wide operating temperatures
    Joseph, George M. ; T. A. Shahul Hameed
    In: Materials Today: Proceedings, Jg. 43 (2021), S. 3675-3678
    Online unknown
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    A review on various CMOS circuit styles
    Shanmugan, S. ; A. Simon Prabu ; et al.
    In: Materials Today: Proceedings, Jg. 30 (2020), S. 104-114
    Online unknown
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    Performance improvement of chip-level CMOS-integrated ReRAM cells through material optimization
    Demirci, Tugba ; Leblebici, Yusuf ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 214 (2019-06-01), S. 74-80
    Online unknown
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    A 68-nW novel CMOS sub-bandgap voltage reference circuit
    Wang, Zhen ; Lei, Jianming ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 89 (2019-07-01), S. 37-40
    Online unknown
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    Thermal stress analysis for a CMOS-MEMS microphone with various metallization and materials
    Yeh, Meng-Kao ; Lu, Chun-Lin
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 213 (2019-05-01), S. 47-54
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    Various Issues and considerations for the Static Power Consumption in NANO-CMOS: Design Perspective
    Vaishali ; Ashwani Kumar Yadav ; et al.
    In: Materials Today: Proceedings, Jg. 10 (2019), S. 136-141
    Online unknown
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    Total-ionization-dose characterization of a radiation-hardened mixed-signal microcontroller SoC in 180 nm CMOS technology for nanosatellites
    Li, Yang ; Liu, H. ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 87 (2019-05-01), S. 65-72
    Online unknown
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    Analysis of 6 T SRAM cell in sub-45 nm CMOS and FinFET technologies
    Cleiton Magano Marques ; Almeida, Roberto B. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, 2018-09-01, S. 196-202
    Online unknown
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    Statically triggered 3×VDD-Tolerant ESD detection circuit in a 90-nm low-voltage CMOS process
    Yu, Ningmei ; Liou, Juin J. ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 78 (2018-08-01), S. 88-93
    Online unknown
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    Impact of TSV location in HVIC on CMOS operation: A mixed-mode TCAD simulation study
    Shaker, Ahmed ; Gontrand, Christian ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 75 (2018-05-01), S. 113-118
    Online unknown
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    Electrical and photo-stimulated characteristics of all-implanted CMOS compatible planar Si photodiode
    Ahmad, W. ; Ahmed, S. ; et al.
    In: Optik, Jg. 155 (2018-02-01), S. 297-300
    Online unknown
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Bias temperature instability in scaled CMOS technologies: A circuit perspective
    Kerber, Andreas ; Nigam, T.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 81 (2018-02-01), S. 31-40
    Online unknown
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    An output node split CMOS logic for high-performance and large capacitive-load driving scenarios
    Rafiee, Maliheh ; Mohammad Bagher Ghaznavi-Ghoushchi
    In: Microelectronics Journal, Jg. 72 (2018-02-01), S. 109-119
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    Investigation of negative DIBL effect for ferroelectric-based FETs to improve MOSFETs and CMOS circuits
    Li, Yangyang ; Wu, Zhenhua ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 114 (2021-08-01), S. 105110-105110
    Online unknown
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    CMOS micro-heater design for direct integration of carbon nanotubes
    Aasmundtveit, Knut E. ; Roy, Avisek ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 79 (2017-12-01), S. 517-525
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Analysis and modeling of the semi-floating transistor based 1T pixel in CMOS image sensors
    Gao, Jing ; Li, Yi ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 69 (2017-11-01), S. 20-27
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Solution-processed organic–inorganic hybrid CMOS inverter exhibiting a high gain reaching 890
    Okamoto, Toshihiro ; Tsuzuku, Kotaro ; et al.
    In: Organic Electronics, Jg. 48 (2017-09-01), S. 127-131
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Investigation on NBTI-induced dynamic variability in nanoscale CMOS devices: Modeling, experimental evidence, and impact on circuits
    Wang, Yangyuan ; Ren, Pengpeng ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 81 (2018-02-01), S. 101-111
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    A 0.13-μm CMOS resonator-based frequency-doubling mechanism for clock recovery in a full-rate 40 Gb/s optical receiver
    Fariborz Lohrabi Pour ; Chong, Joseph ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 114 (2021-08-01), S. 105137-105137
    Online unknown
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Simulation, characterization and implementation of a new SCR-based device with a turn-off capability for EOS-immune ESD power supply clamps in advanced CMOS technology nodes
    Guitard, Nicolas ; Galy, Philippe ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 85 (2018-06-01), S. 176-189
    Online unknown
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