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    Analysis of Transfer Gate Doping Profile Influence on Dark Current and FWC in CMOS Image Sensors
    Xu, Jiangtao ; Gao, Zhiyuan ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 9 (2021), S. 27-35
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Random Telegraph Noises in CMOS Image Sensors Caused by Variable Gate-Induced Sense Node Leakage Due to X-Ray Irradiation
    Chih-Lin, Lee ; Wu, Thomas ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 7 (2019), S. 227-238
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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    Radiation Hardening of Digital Color CMOS Camera-on-a-Chip Building Blocks for Multi-MGy Total Ionizing Dose Environments
    Marco Van Uffelen ; Rolando, Sébastien ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, 2017
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    CMOS MAPS in a Homogeneous 3D Process for Charged Particle Tracking
    Re, Valerio ; Morsani, Fabio ; et al.
    2014
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Characteristics of ESD protection devices operated under elevated temperatures
    Liou, Juin J. ; Klebanov, Maxim ; et al.
    In: 2016 IEEE International Nanoelectronics Conference (INEC), 2016-05-01
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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