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    The XFM beamline at the Australian Synchrotron
    Divitcos, Jim ; McKinlay, Jonathan ; et al.
    In: Journal of synchrotron radiation, Jg. 27 (2020-06-05), Heft Pt 5
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Simultaneous X-ray fluorescence and scanning X-ray diffraction microscopy at the Australian Synchrotron XFM beamline
    Vine, David ; Martin D. de Jonge ; et al.
    In: Journal of Synchrotron Radiation, Jg. 23 (2016-08-11), S. 1151-1157
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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    Novel application of X-ray fluorescence microscopy (XFM) for the non-destructive micro-elemental analysis of natural mineral pigments on Aboriginal Australian objects
    Popelka-Filcoff, Rachel S. ; Martin D. de Jonge ; et al.
    In: The Analyst, Jg. 141 (2016-03-22), Heft 12
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Intracellular in situ labeling of TiO2 nanoparticles for fluorescence microscopy detection
    Jacobsen, Chris ; Liu, William ; et al.
    In: Nano Research, Jg. 11 (2017-07-19), S. 464-476
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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