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    Device Modeling of MgO-Barrier Tunneling Magnetoresistors for Hybrid Spintronic-CMOS
    Zuo, Siming ; Heidari, Hadi ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-11-01), S. 1784-1787
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    Long Exposure Time Noise in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors
    Han, Liqiang ; Xu, Jiangtao
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-07-01), S. 979-982
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    A Disposable and Self-Aligned 3-D Integrated Bio-Sensing Interface Module for CMOS Cell-Based Biosensor Applications
    Bakir, Muhannad S. ; Gonzalez, Joe L. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-08-01), S. 1215-1218
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    A Low-Loss Bandpass Filter using Edge-Coupled Resonator With Capacitive Feeding in (Bi)-CMOS Technology
    Zhu, Xi ; Zhu, He ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-06-01), S. 787-790
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    Simultaneous Imaging and Energy Harvesting in CMOS Image Sensor Pixels
    Yoon, Euisik ; Park, Sung-Yun ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-04-01), S. 532-535
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    Assessment of Germanane Field-Effect Transistors for CMOS Technology
    Yoon, Youngki ; AlMutairi, AbdulAziz ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-12-01), S. 1743-1746
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    Monolithic Three-Dimensional 65-nm CMOS-Nanoelectromechanical Reconfigurable Logic for Sub-1.2-V Operation
    Woo Young Choi ; Hyug Su Kwon ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-09-01), S. 1317-1320
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    Optical Stimulation Effects on TiO2Sensor Dielectric Used in Capacitively-Coupled High-Density CMOS Microelectrode Array
    Zeck, Günther ; Boucsein, Clemens ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-07-01), S. 967-970
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    High-Responsivity Si Photodiodes at 1060 nm in Standard CMOS Technology
    Zhou, Hongyi ; He, Xiaoying ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-02-01), S. 228-231
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    Impact of Series Resistance on Bulk CMOS Current Matching Over the 5–300K Temperature Range
    Nguyen Cong Dao ; Leong, Philip H. W. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-07-01), S. 847-850
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Charge Trap Transistor (CTT): An Embedded Fully Logic-Compatible Multiple-Time Programmable Non-Volatile Memory Element for High- $k$ -Metal-Gate CMOS Technologies
    Khan, Faraz ; Iyer, Subramanian S. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017), S. 44-47
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    Low-Leakage and Low-Trigger-Voltage SCR Device for ESD Protection in 28-nm High- $k$ Metal Gate CMOS Process
    Lin, Chun-Yu ; Ker, Ming-Dou ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-11-01), S. 1387-1390
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Optical Power Efficiency Versus Breakdown Voltage of Avalanche-Mode Silicon LEDs in CMOS
    Wienk, Gerard J. M. ; Annema, Anne-Johan ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 38 (2017-06-23), Heft 7, S. 898-901
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    A Study of Vertical Thin Poly-Si Channel Transfer Gate Structured CMOS Image Sensors
    Yoo, Kyung-Dong ; Cho, In-Wook ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-02-01), S. 232-235
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    Single-Resonator Dual-Frequency BEOL-Embedded CMOS-MEMS Oscillator With Low-Power and Ultra-Compact TIA Core
    Torres, Francesc ; Uranga, Arantxa ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-02-01), S. 273-276
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    THz Detection Using p+/n-Well Diodes Fabricated in 45-nm CMOS
    Kenneth, K. O ; Ahmad, Zeshan
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-07-01), S. 823-826
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    Full-Swing Clock Generating Circuits on Plastic Using a-IGZO Dual-Gate TFTs With Pseudo-CMOS and Bootstrapping
    Mativenga, Mallory ; Geng, Di ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-07-01), S. 882-885
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    High-Voltage Generation in CMOS Photovoltaic Devices by Localized Substrate Removal
    Su, Hsiu-Wei ; Hung, Yung-Jr ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-06-01), S. 754-757
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    CMOS-Compatible Replacement Metal Gate InGaAs-OI FinFET With $I_{ON}=156~\mu \text{A}/\mu \text{m}$ at $V_{DD}= 0.5$ V and $I_{OFF}=100$ nA/$\mu \text{m}$
    Caimi, Daniele ; Deshpande, Veeresh ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-02-01), S. 169-172
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    Effects of Parasitic Resistance on the Performance of Silicon Avalanche Photodetectors in Standard CMOS Technology
    Woo Young Choi ; Lee, Myung-Jae
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016), S. 60-63
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