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    A Linear-Mode LiDAR Sensor Using a Multi-Channel CMOS Transimpedance Amplifier Array
    Kim, Seung-Hoon ; Hong, Chaerin ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 18 (2018-09-01), S. 7032-7040
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    An Analog Controllable CMOS Constant-Power Source for a Thermally-Based Sensor Interface Using a Resistive Mirror Architecture
    Erceg, Milena ; Gobovic, Desa ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 18 (2018-12-15), S. 10066-10076
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    A Sub-ns Integrated CMOS Laser Driver With Configurable Laser Pulses for Time-of-Flight Applications
    Isern, Eugeni ; Blasco, Guillermo ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 18 (2018-08-15), S. 6547-6556
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    A 0.18- <tex-math notation='LaTeX'>$\mu$ </tex-math> m CMOS Voltage-to-Frequency Converter With Low Circuit Sensitivity
    Kuan Chuang Koay ; Pak Kwong Chan
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 18 (2018-08-01), S. 6245-6253
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    A $64.8~\mu$ W > 2.2 G $\Omega$ DC–AC Configurable CMOS Front-End IC for Wearable ECG Monitoring
    Wenbin, Bai ; Li, Yani ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 18 (2018-04-15), S. 3400-3409
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    A CMOS Readout Circuit for Resistive Transducers Based on Algorithmic Resistance and Power Measurement
    Robert van Veldhoven ; Suy, Hilco ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 17 (2017-12-01), S. 7917-7927
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    A Relative Permittivity-Based Air Pressure Sensor Using Standard CMOS Process
    Kang, John H. ; Park, Sujin ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 17 (2017-06-15), S. 3892-3899
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    An Energy-Efficient Frequency-Domain CMOS Temperature Sensor With Switched Vernier Time-to-Digital Conversion
    Joo, Hyobin ; Zhan, Chenchang ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 17 (2017-05-15), S. 3001-3011
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    ISFETs in CMOS and Emergent Trends in Instrumentation: A Review
    Tor Sverre Lande ; Georgiou, Pantelis ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 16 (2016-09-01), S. 6496-6514
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    An Implantable Stimulator With Safety Sensors in Standard CMOS Process for Active Books
    Zong, Zhulin ; Jiang, Dai ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 16 (2016-10-01), S. 7161-7172
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    A 0.8 V Supply- and Temperature-Insensitive Capacitance-to-Digital Converter in 0.18- <tex-math notation='LaTeX'>$\mu \text{m}$ </tex-math> CMOS
    Je, Minkyu ; Zhi Hui Kong ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 16 (2016-07-01), S. 5354-5364
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    A High Dynamic Range CMOS Readout Chip for Electrochemical Sensors
    Chen, Jie ; Chen, Min ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 16 (2016-05-01), S. 3504-3513
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    Analysis and Modeling of the Light-Dependent Full Well Capacity of the 4-T Pixel in CMOS Image Sensors
    Xu, Jiangtao ; Nie, Kaiming ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 16 (2016-04-01), S. 2367-2373
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    A Polar Symmetric CMOS Image Sensor for Rotation Invariant Measurement
    Sivaramakrishnan, Sriram ; Molnar, Alyosha ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 16 (2016-03-01), S. 1190-1199
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    A 1.2 V Low-Power CMOS Chopper-Stabilized Analog Front-End IC for Glucose Monitoring
    Kim, Jongpal ; Ko, Hyoungho
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 16 (2016-09-01), S. 6517-6518
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    A New Spatiotemporal CMOS Imager With Analog Accumulation Capability for Nanosecond Low-Power Pulse Detections
    Mathiot, Daniel ; Zint, Chantal-Virginie ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 6 (2006-10-01), S. 1200-1208
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    A High Repetition Rate CMOS Driver for High-Energy Sub-ns Laser Pulse Generation in SPAD-Based Time-of-Flight Range Finding
    Nissinen, Jan ; Kostamovaara, Juha
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 16 (2016-03-01), S. 1628-1633
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    A 1.1 μW CMOS Smart Temperature Sensor with an Inaccuracy of ±0.2°C (3σ) for Clinical Temperature Monitoring
    Bermak, Amine ; Law, Man-Kay ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, 2016, S. 1-1
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    Characterization and comparison of stacked photodiodes spectral sensitivity in CMOS technology
    Delgado-Restituto, Manuel ; Lenero-Bardallo, Juan A. ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, 2016, S. 1-1
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    Analysis and Modeling of One-Dimensional Folded Vertical Hall Sensor With Readout Circuit
    Yu, Chih-Ping ; Wang, Wei-Yu ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 17 (2017-11-01), S. 6880-6887
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