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    Long Exposure Time Noise in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors
    Han, Liqiang ; Xu, Jiangtao
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-07-01), S. 979-982
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    A Disposable and Self-Aligned 3-D Integrated Bio-Sensing Interface Module for CMOS Cell-Based Biosensor Applications
    Bakir, Muhannad S. ; Gonzalez, Joe L. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-08-01), S. 1215-1218
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    Simultaneous Imaging and Energy Harvesting in CMOS Image Sensor Pixels
    Yoon, Euisik ; Park, Sung-Yun ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-04-01), S. 532-535
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    Monolithic Three-Dimensional 65-nm CMOS-Nanoelectromechanical Reconfigurable Logic for Sub-1.2-V Operation
    Woo Young Choi ; Hyug Su Kwon ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-09-01), S. 1317-1320
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    Optical Stimulation Effects on TiO2Sensor Dielectric Used in Capacitively-Coupled High-Density CMOS Microelectrode Array
    Zeck, Günther ; Boucsein, Clemens ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-07-01), S. 967-970
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    THz Detection Using p+/n-Well Diodes Fabricated in 45-nm CMOS
    Kenneth, K. O ; Ahmad, Zeshan
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-07-01), S. 823-826
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    Full-Swing Clock Generating Circuits on Plastic Using a-IGZO Dual-Gate TFTs With Pseudo-CMOS and Bootstrapping
    Mativenga, Mallory ; Geng, Di ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-07-01), S. 882-885
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    High-Voltage Generation in CMOS Photovoltaic Devices by Localized Substrate Removal
    Su, Hsiu-Wei ; Hung, Yung-Jr ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-06-01), S. 754-757
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    In-Die Through-BEOL Metal Wall for Noise Isolation in 180-nm FD-SOI CMOS
    Li, Cheng ; Chen, Qi ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-05-01), S. 630-632
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    A Traveling-Wave CMOS SPDT Using Slow-Wave Transmission Lines for Millimeter-Wave Application
    Pistono, Emmanuel ; Ferrari, Philippe ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 34 (2013-09-01), S. 1094-1096
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    A Sub-150- BEOL-Embedded CMOS-MEMS Oscillator With a 138-dB Ultra-Low-Noise TIA
    Li, Ming-Huang ; Li, Sheng-Shian ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-05-01), S. 648-651
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    Ge-Based Asymmetric RRAM Enable $8{F}^{2}$ Content Addressable Memory
    Zhao, Yi ; Xu, Shun ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-09-01), S. 1294-1297
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    Resistor-Triggered SCR Device for ESD Protection in High-Speed I/O Interface Circuits
    Chen, Chun-Yu ; Lin, Chun-Yu
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-06-01), S. 712-715
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    The Impact of Self-Heating on Charge Trapping in High- <tex-math notation='LaTeX'>$k$ </tex-math>-Metal-Gate nFETs
    J. Campbell Scott ; Iyer, Subramanian S. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016), S. 88-91
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    Coupling-Shielded Inductor for High Isolation Between PA and LC -Based DCO
    Yoo, Sang-Sun ; Yoo, Hyung-Joun ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017), S. 24-27
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