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    Monolithic Three-Dimensional 65-nm CMOS-Nanoelectromechanical Reconfigurable Logic for Sub-1.2-V Operation
    Woo Young Choi ; Hyug Su Kwon ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-09-01), S. 1317-1320
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    Full-Swing Clock Generating Circuits on Plastic Using a-IGZO Dual-Gate TFTs With Pseudo-CMOS and Bootstrapping
    Mativenga, Mallory ; Geng, Di ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-07-01), S. 882-885
    Online unknown
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    High-Voltage Generation in CMOS Photovoltaic Devices by Localized Substrate Removal
    Su, Hsiu-Wei ; Hung, Yung-Jr ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-06-01), S. 754-757
    Online unknown
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    Resistor-Triggered SCR Device for ESD Protection in High-Speed I/O Interface Circuits
    Chen, Chun-Yu ; Lin, Chun-Yu
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-06-01), S. 712-715
    Online unknown
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  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    The Impact of Self-Heating on Charge Trapping in High- <tex-math notation='LaTeX'>$k$ </tex-math>-Metal-Gate nFETs
    J. Campbell Scott ; Iyer, Subramanian S. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016), S. 88-91
    Online unknown
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