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    Modeling the Performance of Mosaic Uncooled Passive IR Sensors in CMOS–SOI Technology
    Bar-Lev, Sharon ; Zviagintsev, Alex ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-10-01), S. 4571-4576
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    High-Gain Hybrid CMOS Inverters by Coupling Cosputtered ZnSiSnO and Solution-Processed Semiconducting SWCNT
    Zhang, Jianhua ; Zhong, De-Yao ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-07-01), S. 2838-2843
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    Performance Potential of Ge CMOS Technology From a Material-Device-Circuit Perspective
    Alam, Muhammad A. ; Wu, Heng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-05-01), S. 1679-1684
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    Flexible Lightweight CMOS-Enabled Multisensory Platform for Plant Microclimate Monitoring
    Shaikh, Sohail F. ; Qaiser, Nadeem ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, 2018, S. 1-7
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    Integrating Poly-Silicon and InGaZnO Thin-Film Transistors for CMOS Inverters
    Yuanjun, Hsu ; Wong, Man ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-09-01), S. 3668-3671
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    CMOS Compatible Electrostatically Formed Nanowire Transistor for Efficient Sensing of Temperature
    Coen, Tom ; Rosenwaks, Yossi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-09-01), S. 3836-3840
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    Freeform Compliant CMOS Electronic Systems for Internet of Everything Applications
    Nassar, Joanna M. ; Muhammad Mustafa Hussain ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-05-01), S. 1894-1905
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    Modeling of CMOS Devices and Circuits on Flexible Ultrathin Chips
    Dahiya, Ravinder ; Gupta, Shoubhik ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-05-01), S. 2038-2046
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    Comparison of Logic Performance of CMOS Circuits Implemented With Junctionless and Inversion-Mode FinFETs
    Guin, Shilpi ; Sil, Monali ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-03-01), S. 953-959
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    1-kb FinFET Dielectric Resistive Random Access Memory Array in $1\times $ nm CMOS Logic Technology for Embedded Nonvolatile Memory Applications
    Chrong Jung Lin ; Chih, Yue-Der ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-11-01), S. 4273-4278
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Device and Circuit Performance of the Future Hybrid III–V and Ge-Based CMOS Technology
    Benbakhti, Brahim ; Soltani, Ali ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-10-01), S. 3893-3899
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    A Short-Channel-Effect-Degraded Noise Margin Model for Junctionless Double-Gate MOSFET Working on Subthreshold CMOS Logic Gates
    Chiang, Te-Kuang
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-08-01), S. 3354-3359
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    Fully Depleted Ge CMOS Devices and Logic Circuits on Si
    Ye, Peide D. ; Wu, Heng
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-08-01), S. 3028-3035
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    Out-of-Plane Strain Effects on Physically Flexible FinFET CMOS
    Fahad, Hossain M. ; Ghoneim, Mohamed T. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-07-01), S. 2657-2664
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    Si CMOS Image-Sensors Designed With Hydrogen-Ion Implantation Induced Nanocavities for Enhancing Output Voltage Sensing Margin via Proximity Gettering
    Kim, Il-Hwan ; Park, Jea-Gun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-05-01), S. 2345-2349
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    Chord-Fractal Capacitor in CMOS Technology
    Chien, Chun-Tsai ; Hsu, Heng-Ming
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-12-01), S. 4642-4646
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    Self-Selection RRAM Cell With Sub- $\mu \text{A}$ Switching Current and Robust Reliability Fabricated by High- $K$ /Metal Gate CMOS Compatible Technology
    Chen, Sijie ; Huang, Peng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-11-01), S. 4295-4301
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    $1\times$ - to $2\times$ -nm perpendicular MTJ Switching at Sub-3-ns Pulses Below $100~\mu$ A for High-Performance Embedded STT-MRAM for Sub-20-nm CMOS
    Noguchi, Hiroki ; Fukumoto, Miyoshi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-02-01), S. 427-431
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    Diffusion and Gate Replacement: A New Gate-First High- <tex-math notation='LaTeX'>$k$ </tex-math>/Metal Gate CMOS Integration Scheme Suppressing Gate Height Asymmetry
    Schram, Tom ; Ritzenthaler, Romain ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), S. 265-271
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    Optimization of CMOS-ISFET-Based Biomolecular Sensing: Analysis and Demonstration in DNA Detection
    Xu, Guangyu ; Abbott, Jeffrey ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, 2016, S. 1-8
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xs 0 - 576
sm 576 - 768
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