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    Silicon MCM substrates for integration of III-V photonic devices and CMOS IC`s
    Rose, B
    1993
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Steps toward fabricating cryogenic CMOS compatible single electron devices for future qubits.
    Lilly, Michael
    2008
    Online Konferenz
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    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Development of a CMOS time memory cell VLSI and CAMAC module with 0. 5 ns resolution
    Matsumura, T [NTT LSI Lab. 3-1 Morinosato Wakamiya, Atsugi, Kanagawa 243-01 (Japan)]
    1992
    Online Konferenz
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    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Two CMOS memory cells suitable for the design of SEU-tolerant VLSI circuits
    Koga, R [Aerospace Corp., Los Angeles, CA (United States)]
    1994
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Latch-up and radiation integrated circuit--LURIC: a test chip for CMOS latch-up investigation
    Estreich, D
    1978
    Online report
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    Wie komme ich dran?
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    Custom high-reliability radiation-hard CMOS-LSI circuit design
    Barnard, W
    1981
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Three micron CMOS technology for custom high reliability and radiation-hardened integrated circuits
    Sexton, F
    1983
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Electrical properties and detection methods for CMOS IC defects
    Hawkins, C
    1989
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Modeling and elimination of latch-up in bulk CMOS integrated circuits
    Dressendorfer, P
    1981
    Online Konferenz
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Radiation induced latch-up modeling of CMOS IC's
    Shafer, B
    1987
    Online Konferenz
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Latent failures due to electrostatic discharge in CMOS integrated circuits
    Soden, J
    1987
    Online Konferenz
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    A RAM based CMOS histogrammer integrated circuit
    Alsford, J
    1988
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    CMOS VLSI single event transient characterization
    Bradley, J [Los Alamas, National Lab. (US)]
    1989
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Strategies for lot acceptance testing using CMOS transistors and ICS
    Hughes, K [L and M Technologies, Albuquerque, NM (US)]
    1989
    Online Konferenz
    Zugriff:
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Modeling and simulation of physical faults in CMOS VLSI circuits
    Gobovic, D
    1988
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A perspective on CMOS technology trends
    Cavin, III, R
    1986
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    Radiation-tolerant 50MHz bulk CMOS VLSI circuits utilizing radiation-hard structure NMOS transistors
    Takatsuka
    1986
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Circuit design for nuclear radiation test of CMOS multiplier chips
    Hughes, H
    1986
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Physics and technology development of single-crystal thin-film silicon-on-insulator (TFSOI) CMOS integrated circuits
    Velo, L
    1991
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Experimental results and modeling techniques for substrate noise in mixed-signal integrated circuits
    Masui, S [Stanford Univ., CA (United States)]
    1993
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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