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    A simple way of characterizing x-ray downwards-deflecting mirror-bender assemblies using the long trace profiler
    Her, P
    1999
    Online Konferenz
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Comparison of slope and height profiles for flat synchrotron x-ray mirrors measured with a long trace profiler and a Fizeau interferometer.
    2007
    Online Konferenz
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Results of x-ray mirror round-robin metrology measurements at the APS, ESRF, and SPring-8 optical metrology laboratories.
    2005
    Online Konferenz
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    A Ray-Tracing Study of the Dependence of Focal Properties on Surface Figure Error for a Kirkpatrick-Baez (K-B) Mirror System
    Fischetti, R [GM/CA CAT, Biosciences Division, Argonne National Laboratory, 9700 S. Cass Ave, Argonne, IL 60439 (United States)]
    2004
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -