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    Pin-Gap Correction of Coaxial Calibration Standards for TRL or LRL Calibration
    Koo, H. ; Cho, C. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 10 (2022), S. 34779-34788
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    The Application of LRL Technique for Calibrating the Automatic Network Analyzer
    Yun, Cao ; Huaiyan, Chen
    In: 2014 Fourth International Conference on Instrumentation and Measurement, Computer, Communication and Control, 2014-09-01, S. 265-268
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Evaluation of coaxial V-connector LRL impedance standards for the 65 GHz vector network analyzer
    Lee, Yeou-Song
    In: 61st ARFTG Conference Digest, Spring, 2003, S. 171-177
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Multimode TRL and LRL calibrated measurements of differential devices
    Buber, T. ; Rodriguez, A. ; et al.
    In: 64th ARFTG Microwave Measurements Conference, Fall, 2004, S. 157-166
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    LRL/LRM modifications for sinlified high frequency multiport/differential measurements
    Martens, J. ; Judge, D. ; et al.
    In: 64th ARFTG Microwave Measurements Conference, Fall, 2004, S. 147-156
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Comparison of lrl(m), trm, trrm and tar, calibration techniques using the straightforward de-embedding method
    Reynoso-Hernandez, J.A. ; Inzunza-Gonzalez, E.
    In: 59th ARFTG Conference Digest, Spring, 2002, S. 93-98
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Measurement of rectifying diode impedance and efficiency for energy harvesting applications
    Milosevic, Branka ; Radovanovic, Milos ; et al.
    In: IEEE EUROCON 2019 -18th International Conference on Smart Technologies, 2019-07-01, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Characterization of Thin-Film Calibration Elements
    Williams, Frank
    In: 38th ARFTG Conference Digest, Jg. 20 (1991-12-01), S. 25
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Accuracy study on the newly introduced Anritsu W1-connector calibration and verification kit
    Lee, Yeou-Song ; Roberts, T.
    In: Conference, 2003. Fall 2003. 62nd ARFTG Microwave Measurements, 2003, S. 109-118
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Design of components for a 7-16 precision calibration kit using the high frequency structure simulator
    Szendrenyi, B.B.
    In: 52nd ARFTG Conference Digest. Automatic RF Techniques Group. Computer-Aided Design and Test for High-Speed Electronics (IEEE Cat. No.98EX245), 1998, S. 101-105
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    A complete calibration procedure for time domain network analyzers
    Ferrari, P. ; Angenieux, G. ; et al.
    In: 1992 IEEE MTT-S Microwave Symposium Digest, 1992, S. 1451-1454
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    A Straightforward De-Embedding Method for Devices Embedded in Test Fixtures
    Reynoso-Hernandez, J. A. ; Inzunza-Gonzalez, Everardo
    In: 57th ARFTG Conference Digest, Jg. 39 (2001-05-01), S. 1
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Design of Components for a 7-16 Precision Calibration Kit Using the High Frequency Structure Simulator
    Szendrenyi, Bela B.
    In: 52nd ARFTG Conference Digest, Jg. 34 (1998-12-01), S. 101
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Development of Calibration and Verification Standards in Microstrip to 60 GHz
    Oldfield, William
    In: 34th ARFTG Conference Digest, Jg. 16 (1989-11-01), S. 26
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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