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281 Treffer

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    Comparison of Hysteresis margin and Hysteresis width Schmitt Trigger Oscillators using logic gates in 28nm CMOS Technology
    Lakhara, Nisha Kumari ; Trikey, Sukeshni
    In: 2024 IEEE International Students' Conference on Electrical, Electronics and Computer Science (SCEECS), 2024-02-24, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    MSR-Net: A Novel Noise Elimination Method for Real CMOS Image Sensor
    Luo, Y. ; Fu, L. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 12 (2024), S. 78714-78725
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Tunable design of OTA2-C2 Low Pass Filter using CMOS Technology: An Innovative Approach
    Shanthi, G. ; Sai Kumar, Aruru ; et al.
    In: 2023 4th International Conference for Emerging Technology (INCET), 2023-05-26, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Implementation of Ambipolar CNTFET based logic gates and their performance comparison with CNTFET and CMOS based logic gates
    Basnat, Som Kumar ; Akram, Md. Waseem ; et al.
    In: 2023 International Conference on Recent Advances in Electrical, Electronics & Digital Healthcare Technologies (REEDCON), 2023-05-01, S. 56-61
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    An Efficient and Low Power 45nm CMOS Based R-2R DAC
    Rajendra Prasad, S. ; Kavya Sree, Namani ; et al.
    In: 2023 4th International Conference for Emerging Technology (INCET), 2023-05-26, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Design and Simulation of Fault Tolerances in Combinational Circuits Using CMOS 45nm Technology
    Reddy, Vanga Karunakar ; Kumar AV, Ravi
    In: 2023 Second International Conference on Electrical, Electronics, Information and Communication Technologies (ICEEICT), 2023-04-05, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Scalable Fully-Coupled Annealing Processing System Implementing 4096 Spins Using 22nm CMOS LSI
    Megumi, T. ; Endo, A. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 12 (2024), S. 19711-19723
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Performance Evaluation and Comparative Analysis of Logic Gates based on CNTFET and CMOS
    Redwan, Rahat ; Ganguly, Chamak ; et al.
    In: 2023 26th International Conference on Computer and Information Technology (ICCIT), 2023-12-13, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    A 6 GHz Digitally-Controlled Oscillator Achieving Minimum Fine Tuning Step Size of Up to 160 Hz Using Capacitive Degeneration Technique in 40 nm CMOS Process
    Abdullah, Shakeeb ; Rogers, John W. M. ; et al.
    In: 2022 International Conference on Microelectronics (ICM), 2022-12-04, S. 144-147
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Simple Methodology to Model On-Chip Inductors for CMOS RF Integrated Circuits Design
    Sanchez-Ramos, A. ; Loo-Yau, J. R. ; et al.
    In: 2022 IEEE 40th Central America and Panama Convention (CONCAPAN), 2022-11-09, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Design of STT-MRAM Using Hybrid MTJ/CMOS for Applications beyond CMOS
    N, Aswathy ; Siva Mangai, N. M ; et al.
    In: 2022 International Conference on Innovations in Science and Technology for Sustainable Development (ICISTSD), 2022-08-25, S. 104-108
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Subthreshold Modeling of a Tunable CMOS Schmitt Trigger
    Nowbahari, A. ; Marchetti, L. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 11 (2023), S. 10977-10984
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Nanoscale CMOS Biasing Circuit for Analog Applications: The Impact of NBTI Degradation
    Vijay, Ashish ; Duari, Chusen ; et al.
    In: 2023 International Conference for Advancement in Technology (ICONAT), 2023-01-24, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    6T SRAM Cell Design Using CMOS at Different Technology nodes
    Mittal, Deepak
    In: 2022 IEEE 3rd Global Conference for Advancement in Technology (GCAT), 2022-10-07, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    A Behavioral Model for ESD Self-Protection RF Switches in the SOI CMOS Technology
    Liu, Jian ; Peachey, Nathaniel
    In: 2022 International EOS/ESD Symposium on Design and System (IEDS), 2022-11-09, S. 1-8
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A Novel THz CMOS Chip Composed of 64 Antenna-Detectors Array toward 6G Applications
    Cicchetti, Renato ; Petrarca, Massimo ; et al.
    In: 2022 61st FITCE International Congress Future Telecommunications: Infrastructure and Sustainability (FITCE), 2022-09-29, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    CMOS Latch-up Improvement: Embedded Active Collector in FinFET Technology
    Huang, Chien-Yao ; Lin, Wun-Jie ; et al.
    In: 2022 44th Annual EOS/ESD Symposium (EOS/ESD), Jg. EOS-44 (2022-09-18), S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Low Power High Speed Full Adder Design Using CMOS Memristor Hybrid Circuits
    Mishra, Ayush ; Singh, Kunwar
    In: 2022 2nd International Conference on Intelligent Technologies (CONIT), 2022-06-24, S. 1-7
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Analog Front-End Modelling of Miniature CMOS Image Sensors
    J, Rajath ; M, Darshan H ; et al.
    In: 2022 IEEE International Conference on Electronics, Computing and Communication Technologies (CONECCT), 2022-07-08, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    A Novel CMOS Structure Composed of Junctionless n-FinFET with the Same n-Channel and Common Gate
    Shi, Xinlong ; Hu, Huiyong ; et al.
    In: 2022 2nd International Conference on Intelligent Technologies (CONIT), 2022-06-24, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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