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    Crystalline Rare-Earth Oxides as High-k Materials for Future CMOS Technologies
    H. Joerg Osten ; Bugiel, Eberhard ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 11 (2007-09-28), S. 287-297
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Monolithic III-V/Si Integration
    Lubyshev, Dmitri ; Urtega, M. ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 16 (2008-10-03), S. 1015-1020
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Nanoscale Potential Fluctuation in Non-Stoichiometric Hafnium Suboxides
    Vladimir Sh Aliev ; Kruchinin, Vladimir N. ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 69 (2015-09-08), S. 237-241
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Low Temperature Epitaxy of Si and SiGe Using Disilane Based Chemistry for Electronic Purposes
    Damlencourt, Jean-Francois
    In: ECS Transactions, Jg. 28 (2010-04-16), S. 343-348
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Hafnium Silicate Gate Insulators in Field Effect Sensors Used to Detect DNA Hybridization
    Liu, Jian ; Jiang, Weihong ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 16 (2008-10-03), S. 441-450
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -