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    Profile control in BF3 plasma doping
    Kwok, Dixon T. K. ; Chu, Paul K. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 88 (2000-09-15), S. 3198-3201
    Online unknown
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    Conductive atomic force microscopy study of InGaN films grown by hot-wall epitaxy with a mixed (Ga+In) source
    Iwata, Futoshi ; Ishida, Akihiro ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 88 (2000-08-01), S. 1670-1673
    Online unknown
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    Optical properties of nanoscale, one‐dimensional silicon grating structures
    Brueck, Steven R. J. ; Zaidi, Saleem H. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 80 (1996-12-15), S. 6997-7008
    Online unknown
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    Properties of amorphous silicon/amorphous silicon‐germanium multilayers
    Shen, Dashen ; Wagner, Sigurd ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 75 (1994-02-01), S. 1638-1655
    Online unknown
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    Multianalyte biosensor based on pH-sensitive ZnO electrolyte–insulator–semiconductor structures
    Kow Ming Chang ; Ueng, Herng-Yih ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 115 (2014-05-14), S. 184701-184701
    Online unknown
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    Transmission electron microscopy study of N+‐implanted silicon on insulator by energy‐filtered imaging
    Du, A. Y. ; Chu, Y. M. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 70 (1991-08-01), S. 1850-1852
    Online unknown
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    Microwave enhanced ion-cut silicon layer transfer
    Nastasi, Michael ; Höchbauer, T. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 101 (2007-06-01), S. 114915-114915
    Online unknown
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    Local vibration at the surface of a Ge nanocrystal embedded in a silicon oxide matrix
    Chu, Paul K. ; Yang, Yuekun ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 99 (2006), S. 014301-14301
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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