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    Study of porous III–V semiconductors by electron spectroscopies (AES and XPS) and optical spectroscopy (PL): Effect of ionic bombardment and nitridation process
    Bremond, Georges ; Hamila, R. ; et al.
    In: Surface Science, Jg. 601 (2007-09-01), S. 4531-4535
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Electro‐optical characterisation for the control of silicon nanocrystals embedded in SiN x :H films
    Bremond, Georges ; Lemiti, Mustapha ; et al.
    In: physica status solidi c, Jg. 4 (2007-03-28), S. 1554-1559
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Microstructural and magnetic properties of thick (≥10μm) magnetron sputtered barium ferrite films
    Chatelon, J.P. ; Canut, Bruno ; et al.
    2010
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    UV photoreflectance spectroscopy in strained silicon on insulator structures
    Bru-Chevallier, Catherine ; Chouaib, Houssam ; et al.
    2009
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Morphology and optical properties of p-type porous GaAs(100) layers made by electrochemical etching
    Bremond, Georges ; Hjiri, Mokhtar ; et al.
    2008
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Growth of GaInTlAs layers on InP by molecular beam epitaxy
    Olivares, J. ; Canut, Bruno ; et al.
    2001
    Online unknown
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    Spectroscopic studies of GTA welding plasmas. Temperature calculation and dilution measurement
    Xu, Y. ; Petit-Watelot, S. ; et al.
    1999
    Online unknown
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    Alloying effects in self-assembled InAs/InP dots
    Desieres, Yohan ; Gendry, Michel ; et al.
    1999
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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    Optical properties of InAs/InP surface layers formed during the arsenic stabilization process
    Hollinger, G. ; Tabata, A. ; et al.
    1994
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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