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    A Comparative Analysis of Text Embedding Models for Bug Report Semantic Similarity
    Patil, Avinash ; Han, Kihwan ; et al.
    In: 2024 11th International Conference on Signal Processing and Integrated Networks (SPIN), 2024-03-21, S. 262-267
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Bug Predicting Survey Using Advanced Machine Learning Algorithms
    Singh, Chandra Bhan ; Gupta, Namit ; et al.
    In: 2024 IEEE International Conference on Computing, Power and Communication Technologies (IC2PCT), Jg. 5 (2024-02-09), S. 1567-1570
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Analysis of Software Bug Prediction and Tracing Models from a Statistical Perspective Using Machine Learning
    Tambe, Darshana ; Ragha, Lata
    In: 2022 2nd International Conference on Intelligent Technologies (CONIT), 2022-06-24, S. 1-7
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Automated methods for eliminating X bugs
    Chang, Kai-Hui ; Liu, Yen-Ting ; et al.
    In: Fifteenth International Symposium on Quality Electronic Design, 2014-03-01, S. 597-603
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Checking Java Bugs by Data Propagation Analysis
    Feng, Zhang Lu ; Hong, Tang ; et al.
    In: 2011 First International Conference on Instrumentation, Measurement, Computer, Communication and Control, 2011-10-01, S. 861-864
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Software Defect Prediction by Logistic Regression with Gradient Descent Cost Computation
    Suryawanshi, Ranjeetsingh ; Kadam, Amol
    In: 2024 International Conference on Emerging Smart Computing and Informatics (ESCI), 2024-03-05, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Automated Vulnerability Detection in Source Code Using Deep Representation Learning
    Seas, Christoforos ; Fitzpatrick, Glenn ; et al.
    In: 2024 IEEE 14th Annual Computing and Communication Workshop and Conference (CCWC), 2024-01-08, S. 484-490
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    An improved global analysis for program bug checking
    Wang, Yawen ; Gong, Yunzhan ; et al.
    In: 2009 International Conference on Test and Measurement, Jg. 2 (2009-12-01), S. 10
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    BUG algorithm analysis using Petri net
    Yufka, Alpaslan ; Aybar, Aydin
    In: 2013 8th International Conference on Electrical and Electronics Engineering (ELECO), 2013-11-01, S. 507-511
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    A Survey of Software Defects Research Based on Deep Learning
    Meng, Fanqi ; Huang, Ren ; et al.
    In: 2023 6th International Conference on Information Systems and Computer Networks (ISCON), 2023-03-03, S. 1-5
    Konferenz
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Detection of Ethereum Smart Contracts Vulnerabilities Over Blockchain
    Prasad, Baddepaka ; Ramachandram, Sirandas
    In: 2023 3rd International Conference on Electrical, Computer, Communications and Mechatronics Engineering (ICECCME), 2023-07-19, S. 1-6
    Konferenz
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Modeling Reliability Growth among Different Issue Types for Multi-Version Open Source Software
    Singh, Swati ; Mehrotra, Monica ; et al.
    In: 2023 6th International Conference on Information Systems and Computer Networks (ISCON), 2023-03-03, S. 1-5
    Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Leveraging Causal Inference for Explainable Automatic Program Repair
    Wang, Jianzong ; Si, Shijing ; et al.
    In: 2022 International Joint Conference on Neural Networks (IJCNN), 2022-07-18, S. 1-6
    Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Static Type Inference for Foreign Functions of Python
    Hu, Mingzhe ; Zhang, Yu ; et al.
    In: 2021 IEEE 32nd International Symposium on Software Reliability Engineering (ISSRE), 2021-10-01, S. 423-433
    Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Analysis of Appeal for Realistic AI-Generated Photos
    Goring, S. ; Ramachandra Rao, R.R. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 11 (2023), S. 38999-39012
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A Practical Approach for Ranking Software Warnings from Multiple Static Code Analysis Reports
    Dang, Binh Hy
    In: 2020 SoutheastCon, Jg. 2 (2020-03-28), S. 1-7
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    TBEM: Testing-Based GPU-Memory Consumption Estimation for Deep Learning
    Liu, H. ; Liu, S. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 10 (2022), S. 39674-39680
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Software Fault-Proneness Analysis based on Composite Developer-Module Networks
    Lee, S. ; Wong, W.E. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 9 (2021), S. 155314-155334
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Clone Detection in Model-Based Development Using Formal Methods to Enhance Performance in Software Development
    Jnanamurthy, Hk ; Henskens, Frans ; et al.
    In: 2018 3rd International Conference for Convergence in Technology (I2CT), 2018-04-01, S. 1-8
    Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Demystifying Attestation in Intel Trust Domain Extensions via Formal Verification
    Sardar, M.U. ; Musaev, S. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 9 (2021), S. 83067-83079
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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