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    Engineering buried oxide in dopant-segregated Schottky barrier SOI MOSFET for nanoscale CMOS circuits
    PATIL, Ganesh C ; QURESHI, S
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 53 (2013), Heft 3, S. 349-355
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Channel hot carrier effects in n-MOSFET devices of advanced submicron CMOS technologies
    LA ROSA, Giuseppe ; RAUCH, Stewart E
    In: 14TH Workshop on dielectrics in microelectronics (WoDiM 2006), Jg. 47 (2007), Heft 4-5, S. 552-558
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Degradation of static and dynamic behavior of CMOS inverters during constant and pulsed voltage stress
    GERARDIN, S ; GRIFFONI, A ; et al.
    In: 17th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2006), Wuppertal, Germany, 3-6 October 2006, Jg. 46 (2006), Heft 9-11, S. 1669-1672
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Numerical analysis of localised charges impact on static and dynamic performance of nanoscale cylindrical surrounding gate MOSFET based CMOS inverter
    GAUTAM, Rajni ; SAXENA, Manoj ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 53 (2013), Heft 2, S. 236-244
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    A MOSFET power supply clamp with feedback enhanced triggering for ESD protection in advanced CMOS technologies
    SMITH, Jeremy C ; BOSELLI, Gianluca
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 45 (2005), Heft 2, S. 201-210
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    LDMOSFET with drain potential suppression for 100 V Power IC technology
    HOLLAND, P ; ELWIN, M ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 51 (2011), Heft 3, S. 529-535
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Negative bias temperature instability (NBTI) recovery with bake
    KATSETOS, Anastasios A
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 48 (2008), Heft 10, S. 1655-1659
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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