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  1. PRUSZOWSKI, Z ; CIEZ, M
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 54 (2014), Heft 1, S. 200-203
    academicJournal
  2. ZARASKA, W ; THOR, P ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 45 (2005), Heft 12, S. 1930-1934
    Konferenz
  3. GONDEK, J. J ; DZIALEK, K ; et al.
    In: IMAPS : international symposium on microelectronics (Chicago IL, 26-28 October 1999), 1999, S. 631-635
    Konferenz
  4. PRUSZOWSKI, Z ; KOWALIK, P ; et al.
    In: Microelectronics international, Jg. 26 (2009), Heft 2, S. 24-27
    Online academicJournal
  5. GONDEK, J ; DZIALEK, K ; et al.
    In: Microelectronics (Baltimore MD, 9-11 October 2001), 2001, S. 759-761
    Konferenz
  6. DZIURDZIA, B ; NOWAK, S ; et al.
    In: Microelectronics international, Jg. 16 (1999), Heft 3, S. 46-53
    Online academicJournal
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -