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871 Treffer

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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    An artificial intelligent (AI) inspection path management for multiple tasks measurement on co-ordinate measuring machine (CMM): an application of neural network technology
    Lu, C.G. ; Morton, D. ; et al.
    In: Proceedings for Operating Research and the Management Sciences, Engineering Management Conference, 1995. Global Engineering Management: Emerging Trends in the Asia, 1995, S. 353-357
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    T-Spline Based Unifying Registration Procedure for Free-Form Surface Workpieces in Intelligent CMM.
    Han, Zhenhua ; Wang, Yingmo ; et al.
    In: Applied Sciences (2076-3417), Jg. 7 (2017-10-01), Heft 10, S. 1092-1106
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Calibration of line scanner + CMM system using reinforcement learning / 強化学習を用いた非接触スキャナ＋CMMのキャリブレーション
    Kawamoto, Takashi ; 貴志, 川本
    2021
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Evaluation of Ontology Development Methodology with CMM-i
    Kim, Jeong Ah ; Choi, Seung Young
    In: 5th ACIS International Conference on Software Engineering Research, Management & Applications (SERA 2007), 2007-08-01, S. 823
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Improving Existing CMMS Software Packages Using Association Rules
    Beldjoudi, Samia
    In: Revue d'Intelligence Artificielle, Jg. 37 (2023-02-28), S. 223-230
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Investigation of Functional Dependency between the Characteristics of the Machining Process and Flatness Error Measured on a CMM.
    Štrbac, Branko ; Rodić, Dragan ; et al.
    In: Measurement Science Review, Jg. 21 (2021-12-01), Heft 6, S. 158-167
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    WHAT'S NEW IN THE CMMS SEGMENT?
    In: 24x7, Jg. 25 (2020-04-01), Heft 4, S. 14-17
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Prediction and Early Warning of the Teaching Process Based on CMM Model : Information technology and software engineering; information technology & computing intelligence
    Wang, H. ; Chen, N. ; et al.
    In: LECTURE NOTES IN ELECTRICAL ENGINEERING, Jg. 211 (2013), S. 195-206
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    A CMM-Based Method of Control Point Position Calibration for Light Pen Coordinate Measuring System
    Wang, Sen ; Liu, Shugui ; et al.
    In: Sensors, Jg. 20 (2020-09-01), Heft 5592
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Towards the implementation of the Digital Twin in CMM inspection process: opportunities, challenges and proposals
    Eynard, Benoît ; Gaha, Raoudha ; et al.
    In: Procedia Manufacturing, Jg. 54 (2021), S. 216-221
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Influence of CMM scanning speed and inspected feature size on an accuracy of size and form measurement
    Urban, Jan ; Šimota, Jan ; et al.
    In: Manufacturing Technology, Jg. 20 (2020-12-08), S. 538-544
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Dynamic Visual Servoing of A 6-RSS Parallel Robot Based on Optical CMM
    Tian, Wei ; Li, Pengcheng ; et al.
    In: Journal of Intelligent & Robotic Systems, Jg. 102 (2021-05-22)
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    CMM-Net: Contextual multi-scale multi-level network for efficient biomedical image segmentation
    Al-masni, Mohammed A. ; Kim, Donghyun
    In: Scientific Reports, Jg. 11 (2021-05-13)
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    T-Spline Based Unifying Registration Procedure for Free-Form Surface Workpieces in Intelligent CMM
    Liu, Shugui ; Han, Zhenhua ; et al.
    In: Applied Sciences, Jg. 7 (2017-10-01), Heft 10
    Online unknown
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Towards the implementation of the Digital Twin in CMM inspection process: opportunities, challenges and proposals
    Gaha, Raoudha ; Durupt, Alexandre ; et al.
    In: Procedia Manufacturing ; volume 54, page 216-221 ; ISSN 2351-9789, 2021
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A new algorithm for CAD-directed CMM dimensional inspection
    LIN, Y.-J ; MURUGAPPAN, P
    In: International journal, advanced manufacturing technology, Jg. 16 (2000), Heft 2, S. 107-112
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    An Intrinsic Parameter Calibration Method for R-LAT System Based on CMM
    Kang, Jia ; Guo, Junkang ; et al.
    2021
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Integration of inspection planning system and CMM via DMIS
    TANG, X. Q ; DAVIES, B. J
    In: International journal, advanced manufacturing technology, Jg. 10 (1995), Heft 6, S. 422-426
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    A neural network approach to determining optimal inspection sampling size for CMM
    ZHANG, Y. F ; NEE, A. Y. C ; et al.
    In: Computer-integrated manufacturing systems, Jg. 9 (1996), Heft 3, S. 161-169
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Optimizing Sampling Parameters of CMM Data Acquisition for Machining Error Correction of Freeform Surfaces
    Poniatowska, Małgorzata
    In: Acta Mechanica et Automatica, Jg. 12 (2018-12-01), S. 265-269
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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