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    An Approach of Diagnosing Single Bridging Faults in CMOS Combinational Circuits : 3rd Asian test symposium
    Yamazaki, K. ; Yamada, T.
    In: PROCEEDINGS OF THE ASIAN TEST SYMPOSIUM, , S. 88-93
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A Unified Model for Inter-Gate and Intra-Gate CMOS Bridging Fault: The Configuration Ratio : 3rd Asian test symposium
    Renovell, M. ; Huc, P. ; et al.
    In: PROCEEDINGS OF THE ASIAN TEST SYMPOSIUM, , S. 170-175
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    The Effect of Fault Detection by IDDq Measurement for CMOS VLSIs : 3rd Asian test symposium
    Hirase, J. ; Hamada, M.
    In: PROCEEDINGS OF THE ASIAN TEST SYMPOSIUM, , S. 144-149
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Detection of Multiple Faults Using SSFTS in CMOS Logic Circuits : 2nd Asian test symposium
    Tong, C. Q. ; Lu, D.
    In: PROCEEDINGS OF THE ASIAN TEST SYMPOSIUM, , S. 274-280
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Fault Modelisation of External Shorts in CMOS Circuits : 2nd Asian test symposium
    Renovell, M. ; Huc, P. ; et al.
    In: PROCEEDINGS OF THE ASIAN TEST SYMPOSIUM, , S. 237-242
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A Current Testing for CMOS Static RAMS to Reduce Testing Costs : 2nd Asian test symposium
    Yokoyama, H. ; Tamamoto, H. ; et al.
    In: PROCEEDINGS OF THE ASIAN TEST SYMPOSIUM, , S. 231-236
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Universal Test Set Generation for CMOS Circuits : 2nd Asian test symposium
    Chen, B. ; Lee, C. L.
    In: PROCEEDINGS OF THE ASIAN TEST SYMPOSIUM, , S. 20-25
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
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