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    Bias temperature instability in scaled CMOS technologies: A circuit perspective
    Kerber, Andreas ; Nigam, T.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 81 (2018-02-01), S. 31-40
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    A 42-Gb/s VCSEL Driver Suitable for Burst Mode Operation in 14-nm Bulk CMOS
    Ellinger, Frank ; Khafaji, Mahdi ; et al.
    In: IEEE Photonics Technology Letters, Jg. 30 (2018), S. 23-26
    Online unknown
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    Investigation on NBTI-induced dynamic variability in nanoscale CMOS devices: Modeling, experimental evidence, and impact on circuits
    Wang, Yangyuan ; Ren, Pengpeng ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 81 (2018-02-01), S. 101-111
    Online unknown
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    Design Techniques for Signal Reflection Suppression in High-Speed 25-Gb/s Laser Drivers in CMOS
    Bai, Rui ; Hong, Zhiliang ; et al.
    In: IEEE Photonics Technology Letters, Jg. 30 (2018), S. 39-42
    Online unknown
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    Exploration of robustness limits and ESD EMI impact in a protection device for advanced CMOS technology
    Schoenmaker, Wim ; Galy, Philippe
    In: Microelectronics Reliability, 2017-09-01, S. 680-684
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    Ultra-short pulse generator using 0.13-μm CMOS
    Tang, Xusheng ; Huang, Fengyi ; et al.
    In: Microwave and Optical Technology Letters, Jg. 59 (2017-09-22), S. 3094-3097
    Online unknown
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    Enabling robust automotive electronic components in advanced CMOS nodes
    Huard, Vincent ; Bravaix, Alain ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, 2017-09-01, S. 13-24
    Online unknown
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    A fully integrated W-band pulse compression radar CMOS transceiver
    Jang, Jingyu ; Oh, Juntaek ; et al.
    In: Microwave and Optical Technology Letters, Jg. 59 (2017-07-27), S. 2594-2598
    Online unknown
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    Linearized differential current sensor in low-voltage CMOS
    Naudé, Neil ; Sinha, Saurabh
    In: Microelectronics International, Jg. 34 (2017-05-02), S. 91-98
    Online unknown
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Aging comparative analysis of high-performance FinFET and CMOS flip-flops
    Rahebeh Niaraki Asli ; Taghipour, Shiva
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 69 (2017-02-01), S. 52-59
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    The impact of BTI aging on the reliability of level shifters in nano-scale CMOS technology
    Rossi, Daniele ; Halak, Basel ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 67 (2016-12-01), S. 74-81
    Online unknown
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    A Novel Pre-Distortion Circuit of Lasers Fabricated in 0.18- $\mu \text{m}$ CMOS Technology
    Fan, Chen ; Wang, Rong ; et al.
    In: IEEE Photonics Technology Letters, Jg. 29 (2017-11-15), S. 1987-1989
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    A wideband CMOS power amplifier for 77 GHz automobile radar and 94 GHz image radar systems
    Lan, Kai-Siang ; Lin, Yo-Sheng ; et al.
    In: Microwave and Optical Technology Letters, Jg. 59 (2017-06-27), S. 2112-2122
    Online unknown
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    Research on the effect of single-event transient of an on-chip linear voltage regulator fabricated on 130 nm commercial CMOS technology
    Liang, Bin ; Yang, GuoQing ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 73 (2017-06-01), S. 116-121
    Online unknown
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    Monitoring of thermo-mechanical stress via CMOS sensor array: Effects of warpage and tilt in flip chip thermo-compression bonding
    Laor, Ari ; Mayer, Michael ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 73 (2017-06-01), S. 60-68
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Diagnosis of a soft short and local variations of parameters occurring simultaneously in analog CMOS circuits
    Tadeusiewicz, Michał ; Hałgas, Stanisław
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 72 (2017-05-01), S. 90-97
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    An affordable experimental technique for SRAM write margin characterization for nanometer CMOS technologies
    Carmona, Cristian ; Alorda, Bartomeu ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 65 (2016-10-01), S. 280-288
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    A CMOS reconfigurable distributed amplifier employing large-signal MGTR technique
    Zhang, Yi ; Ma, Kaixue ; et al.
    In: Microwave and Optical Technology Letters, Jg. 59 (2017-06-27), S. 2371-2375
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    An integrated Ka-band VCO and divide-by-4 frequency divider with 30.2% tuning range in 90-nm CMOS
    Cheng, Jen-Hao ; Huang, Tian-Wei ; et al.
    In: Microwave and Optical Technology Letters, Jg. 59 (2017-03-30), S. 1306-1309
    Online unknown
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    A dynamic current-bleeding technique for a low-noise and high-gain CMOS mixer
    Ji Young Lee ; Yun, Tae-Yeoul
    In: Microwave and Optical Technology Letters, Jg. 59 (2017-03-30), S. 1267-1271
    Online unknown
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xs 0 - 576
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