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  1. Yuan, Hao ; Yu, Feng ; et al.
    In: Nano Research, Jg. 15 (2021-11-22), S. 9727-9733
    Online unknown
  2. Batten, Tim ; Knippscheer, S. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 52 (2012-12-01), S. 3022-3025
    Online unknown
  3. Philip M Fabis
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 39 (1999-08-01), S. 1265-1274
    Online unknown
  4. Kozlowska, Anna ; Maląg, Andrzej
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 46 (2006-12-01), S. 2079-2084
    Online unknown
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -