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  1. Ahmed, Adeel ; Khan, Danish ; et al.
    In: Sensors, Jg. 22 (2022-04-06), S. 2793-2793
    Online unknown
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  2. S. E. Allen Moses ; Johnson, J. ; et al.
    In: Journal of Materials Science: Materials in Electronics, Jg. 33 (2022), S. 1489-1502
    Online unknown
    Siehe Detailanzeige für Volltext
  3. Woo, Seongho ; Shin, Yujun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility ; page 1-14 ; ISSN 0018-9375 1558-187X, 2024
    Online academicJournal
  4. Kim, Dongwook ; Lee, Changmin ; et al.
    In: Sensors, Jg. 21 (2021-12-01), Heft 8150
    Online unknown
  5. Allen Moses, S. E. ; Johnson, J. ; et al.
    In: Journal of Materials Science: Materials in Electronics ; ISSN 0957-4522 1573-482X, 2022
    academicJournal
  6. Cruciani, Silvano ; Feliziani, Mauro ; et al.
    2017
    Online unknown
  7. Campi, Tommaso ; Cruciani, Silvano ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility ; volume 59, issue 2, page 686-694 ; ISSN 0018-9375 1558-187X, 2017
    Online academicJournal
  8. Darch, M.B.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 17 (1978), S. 25-29
    Online unknown
  9. In: Microelectronics Reliability ; volume 25, issue 3, page 582 ; ISSN 0026-2714, 1985
    academicJournal
  10. In: Microelectronics Reliability ; volume 27, issue 6, page 1036 ; ISSN 0026-2714, 1987
    academicJournal
  11. In: Microelectronics Reliability ; volume 20, issue 5, page 756 ; ISSN 0026-2714, 1980
    academicJournal
  12. In: Microelectronics Reliability ; volume 22, issue 1, page 133 ; ISSN 0026-2714, 1982
    academicJournal
  13. In: Microelectronics Reliability ; volume 20, issue 4, page 540 ; ISSN 0026-2714, 1980
    academicJournal
  14. In: Microelectronics Reliability ; volume 15, issue 6, page 524 ; ISSN 0026-2714, 1976
    academicJournal
  15. Darch, M.B.
    In: Microelectronics Reliability ; volume 17, issue 1, page 25-29 ; ISSN 0026-2714, 1978
    academicJournal
  16. In: Microelectronics Reliability ; volume 20, issue 4, page 539 ; ISSN 0026-2714, 1980
    academicJournal
  17. In: Microelectronics Reliability ; volume 13, issue 4, page 243-244 ; ISSN 0026-2714, 1974
    academicJournal
  18. In: Microelectronics Reliability ; volume 17, issue 6, page 562 ; ISSN 0026-2714, 1978
    academicJournal
  19. In: Microelectronics Reliability ; volume 15, issue 1, page 18 ; ISSN 0026-2714, 1976
    academicJournal
  20. Calvez, Stephane ; Camon, Henri ; et al.
    2022
    Online unknown
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -