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    Monolithic Integration of CMOS Temperature Control Circuit and Si3N4 Microring Filters for Wavelength Stabilization Within Ultra Wide Operating Temperature Range
    Zhang, Zan ; Cheng, Chuantong ; et al.
    In: IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics, Jg. 26 (2020-03-01), S. 1-7
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    Photoelectric Dual Control Negative Differential Resistance Device Fabricated by Standard CMOS Process
    Mao, Luhong ; Cong, Jia ; et al.
    In: IEEE Photonics Journal, Jg. 11 (2019-06-01), S. 1-10
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    A comparative study of lifetime reliability of planar MOSFET and FinFET due to BTI for the 16 nm CMOS technology node based on reaction-diffusion model
    Soin, Norhayati ; Mohamed Mounir Mahmoud
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 97 (2019-06-01), S. 53-65
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    Miniaturized 0.13-μm CMOS Front-End Analog for AlN PMUT Arrays
    Ledesma, Eyglis ; Barniol, Nuria ; et al.
    In: Sensors, Jg. 20 (2020-02-01), Heft 4
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    CMOS-Compatible Measures for Thermal Management of Phase-Sensitive Silicon Photonic Systems
    Zimmermann, André ; Scholz, Ulrike ; et al.
    In: Photonics, Jg. 7 (2020), Heft 1
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    Electrical characterization and reliability of submicron SOI CMOS technology in the extended temperature range (to 300 °C)
    Safonov, Sergey O. ; Stakhin, Veniamin G. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 79 (2017-12-01), S. 416-425
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    Combined Organic Photovoltaic Cells and Ultra Low Power CMOS Circuit for Indoor Light Energy Harvesting
    Batista, Duarte ; Oliveira, Luis B. ; et al.
    In: Sensors, Jg. 19 (2019-04-01), Heft 8
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    Heterogeneous CMOS Photonics Based on SiGe/Ge and III–V Semiconductors Integrated on Si Platform
    Park, Jin-Kwon ; Ikku, Yuki ; et al.
    In: IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics, Jg. 23 (2017-05-01), S. 64-76
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    CMOS nanoelectrode array for all-electrical intracellular electrophysiological imaging
    Abbott, Jeffrey ; Park, Hongkun ; et al.
    In: Nature Nanotechnology, Jg. 12 (2017-02-13), S. 460-466
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    Light Emitting Devices in Si CMOS and RF Bipolar Integrated Circuits
    Polleux, Jean-Luc ; Viana, Carlos ; et al.
    In: LEUKOS, Jg. 12 (2016-02-12), S. 203-212
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    Monolithic Integration of Si3N4 Microring Filters With Bulk CMOS IC Through Post-Backend Process
    Zhang, Zanyun ; Chen, Hongda ; et al.
    In: IEEE Photonics Technology Letters, Jg. 27 (2015-07-15), S. 1543-1546
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    Increased Efficiency of Silicon Light-Emitting Device in Standard Si-CMOS Technology
    Yu, Qi ; Xu, Kaikai ; et al.
    In: IEEE Journal of Quantum Electronics, Jg. 51 (2015-08-01), S. 1-6
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    Polycrystalline silicon gate originated CMOS device failure investigated by Scanning Spreading Resistance Microscopy
    Richter, Mirco ; Mikolajick, Thomas ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 142 (2015-07-01), S. 40-46
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    Poly-silicon light-emitting-device based electro-optical interfaces in standard silicon-CMOS integrated circuitry
    Huang, Guanhua ; Xu, Kaikai ; et al.
    In: Optical Materials, Jg. 102 (2020-04-01), S. 109783-109783
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    High-Performance O-Band Quantum-Dot Semiconductor Optical Amplifiers Directly Grown on a CMOS Compatible Silicon Substrate
    Liu, Songtao ; Norman, Justin ; et al.
    In: ACS Photonics, Jg. 6 (2019-09-18), S. 2523-2529
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Integrating GeSn photodiode on a 200 mm Ge-on-insulator photonics platform with Ge CMOS devices for advanced OEIC operating at 2 μm band
    Wang, Hong ; Xu, Shengqiang ; et al.
    In: Optics Express, Jg. 27 (2019-09-11), S. 26924-26924
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    3-D stacked CMOS inverters using Pt/HfO2 on Si substrate for vertical integrated CMOS applications
    Cho, Won-Ju ; Oh, Soon-Young ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 85 (2008-05-01), S. 1206-1209
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Impact of single-defects on the variability of CMOS inverter circuits
    Enichlmair, Hubert ; Waltl, Michael ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 126 (2021-11-01), S. 114275-114275
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    The impact of device width on the variability of post-irradiation leakage currents in 90 and 65 nm CMOS technologies
    Alles, Michael L. ; Fleetwood, Daniel M. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 52 (2012-11-01), S. 2521-2526
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    Electrical detection of multiple resonant modes in a CMOS–MEMS cantilever
    Torres, Francesc ; Verd, Jaume ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 84 (2007-05-01), S. 1374-1378
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