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    X-ray diffraction, atomic force microscopy and raman spectroscopy studies of microstructure of BiFeO thin films on Pt/Ti/SiO/Si (111) substrates.
    Fan, Fei ; Luo, Bingcheng ; et al.
    In: Journal of Applied Spectroscopy, Jg. 80 (2013-07-01), Heft 3, S. 378-383
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    View record at Springer (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Fabrication of LSS bottom electrode by PLD
    Awan, M.S. ; Bhatti, A.S. ; et al.
    In: Vacuum, Jg. 85 (2010-07-23), Heft 1, S. 55-59
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Structure and electrical properties of c-axis epitaxial Srm−3Bi4TimO3m+3(m=5 and 6) thin films
    Wang, Lei ; Ding, Lu-Yi ; et al.
    In: Solid State Communications, Jg. 149 (2009-12-01), Heft 45/46, S. 2061-2064
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
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