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    Quantification of a Ti(C<subscript> x </subscript>N<subscript>1−x </subscript>) based multilayer by Auger Electron Spectroscopy
    Guillot, J. ; Wirtz, T. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 256 (2009-11-15), Heft 3, S. 773-778
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    The characterisation of non-evaporable getters by Auger electron spectroscopy: analytical potential and artefacts
    Prodromides, A.E. ; Scheuerlein, C. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 191 (2002-05-17), Heft 1-4, S. 300-312
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Chemical reaction of sputtered Cu film with PI modified by low energy reactive atomic beam
    PARK, Jong-Yong ; JUNG, Yeon-Sik ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 252 (2006), Heft 16, S. 5877-5891
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Intrinsic Auger signal profiles derived by Monte Carlo analysis
    Goto, Keisuke ; Ding, Zhiguo ; et al.
    In: Applied Surface Science, 1996-07-01, S. 15-19
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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