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    One-dimensional-based automatic defect inspection of multiple patterned TFT-LCD panels using Fourier image reconstruction.
    Tsai, D. M. ; Chuang, S. T. ; et al.
    In: International Journal of Production Research, Jg. 45 (2007-03-15), Heft 6, S. 1297-1321
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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    An effective and efficient defect inspection system for TFT-LCD polarised films using adaptive thresholds and shape-based image analyses.
    Noh, Chung-Ho ; Lee, Seok-Lyong ; et al.
    In: International Journal of Production Research, Jg. 48 (2010-09-01), Heft 17, S. 5115-5135
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Siehe Detailanzeige für Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -