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    A Novel Approach to Characterize Commercial CMOS Image Sensors in the Search for Boron to Study Thermal Neutron-Induced Radiation Effects Invited Paper
    Espain, Maria Sol ; Perez, Martin ; et al.
    In: 2024 Argentine Conference on Electronics (CAE), 2024-03-07, S. 130-135
    Konferenz
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    Thin Gate Oxide CMOS DC-DC Buck Converter with Floating Gate Drivers
    Gak, Joel ; Marin, Jorge ; et al.
    In: 2024 Argentine Conference on Electronics (CAE), 2024-03-07, S. 120-123
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A 5T Half-SRAM Design for Cold CMOS Physical Unclonable Function Applications and Beyond
    Kanj, Rouwaida ; Kawa, Jamil
    In: 2024 25th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 2024-04-03, S. 1-8
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A 86 mW of Power, 1.57 dB of Noise Figure, Low-IF CMOS Receiver Front End for Sub-6 GHz Applications
    Khatoon, Apsana ; Misra, Prasanna Kumar
    In: 2024 3rd International Conference for Innovation in Technology (INOCON), 2024-03-01, S. 1-5
    Konferenz
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    A Low-Power 10-Bit VCM-Based SAR ADC with 15.4-fJ/conv in 65-NM CMOS
    Carvalho, Matheus B. S. ; dos Santos, Tawan Chrysther ; et al.
    In: 2024 Argentine Conference on Electronics (CAE), 2024-03-07, S. 109-114
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A Low-Power 4-Bit 20-MS/s Flash ADC in 65-nm CMOS with Rail-to-Rail Comparators
    Dos Santos, Tawan Chrysther ; Girardi, Alessandro G. ; et al.
    In: 2024 Argentine Conference on Electronics (CAE), 2024-03-07, S. 103-108
    Konferenz
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    SiC CMOS Gate Driver for High-Temperature Aerospace Applications
    Torres, Felipe ; Martinez, Andres ; et al.
    In: 2024 Argentine Conference on Electronics (CAE), 2024-03-07, S. 99-102
    Konferenz
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    Performance Analysis of CMOS SRAM 6T, 7T and 9T Cells using Cadence at 180nm Technology
    Siddik, Abubakar ; Pujari, Sushmita ; et al.
    In: 2024 3rd International Conference for Innovation in Technology (INOCON), 2024-03-01, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A Novel Segmented SiPM Combined With Amplifiers on One Chip With Improved Single-Photon Timing Resolution in 0.35-μm CMOS
    Preitnacher, J. ; Ageev, S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 71 (2024-03-01), Heft 3, S. 301-308
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    A 1.2 dB NF 16.2 dB Gain +0.5 dBm OP1dB 18 GHz SATCOM LNA in 130 nm CMOS
    Kakara, Hari Kishore ; Das, Indrajit ; et al.
    In: 2024 8th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2024-03-03, S. 1-3
    Konferenz
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Characterization of a 28 nm CMOS Technology for Analog Applications in High Energy Physics
    Traversi, G. ; Gaioni, L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 71 (2024-04-01), Heft 4, S. 932-940
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Online Dark Count Rate Measurements in 150 nm CMOS SPADs Exposed to Low Neutron Fluxes
    Ratti, L. ; Brogi, P. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 71 (2024-04-01), Heft 4, S. 698-709
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Research on Single Event Transients in Linear Voltage Regulators in a 28 nm Bulk CMOS Technology
    Shen, F. ; Chen, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 71 (2024-04-01), Heft 4, S. 793-801
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Research on Test Parameters of Ultra High Resolution CMOS Image Sensor Microsystems
    Tian, Yu ; Liu, Pei ; et al.
    In: 2023 2nd International Conference on Automation, Robotics and Computer Engineering (ICARCE), 2023-12-14, S. 1-5
    Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Optimization of Tungsten Plug Thin Film Process to Improve the Fill Seam and Contact Resistance in 180nm CMOS Technology
    Chauhan, A.K. ; Teja, V.S. ; et al.
    In: 2024 8th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2024-03-03, S. 1-3
    Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A 65-nm CMOS Millimeter-Wave Ear-Worn Non-Invasive Continuous Glucose Monitoring Chipset Using a 0.17mm2 72mW Transmitter and a 0.75mm2 80mW Direct-Conversion Receiver
    Niitsu, Kiichi ; Fukushima, Koki ; et al.
    In: 2024 IEEE 15th Latin America Symposium on Circuits and Systems (LASCAS), 2024-02-27, S. 1-5
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Ultra-Low Power 60 GHz Class-C Frequency Tripler in 22-nm FDSOI CMOS Technology
    Gupta, Aditya ; Dietz, Marco ; et al.
    In: 2024 IEEE 15th Latin America Symposium on Circuits and Systems (LASCAS), 2024-02-27, S. 1-5
    Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Design of Full Adder Circuits with Optimized Power and Speed Using CMOS Technique
    Rajput, Vishal ; Singh, Abhay Pratap ; et al.
    In: 2024 IEEE International Students' Conference on Electrical, Electronics and Computer Science (SCEECS), 2024-02-24, S. 1-5
    Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Comparison of Hysteresis margin and Hysteresis width Schmitt Trigger Oscillators using logic gates in 28nm CMOS Technology
    Lakhara, Nisha Kumari ; Trikey, Sukeshni
    In: 2024 IEEE International Students' Conference on Electrical, Electronics and Computer Science (SCEECS), 2024-02-24, S. 1-4
    Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Highly Reliable Nanoelectrothermal Non-Volatile Memory with CMOS-level Voltage and Low On-State Resistance
    Lee, Yong-Bok ; Choi, Pan-Kyu ; et al.
    In: 2024 IEEE 37th International Conference on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS), 2024-01-21, S. 525-528
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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