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    A HAADF-STEM investigation of inversion boundaries in Sb~2O~3-doped ZnO ceramics : Electron microscopy; ICEM 15
    Yamazaki, T. ; Recnik, A. ; et al.
    In: ELECTRON MICROSCOPY -INTERNATIONAL CONGRESS-, Jg. 1 (2002), S. 515-516
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Deconvolution process of high-resolution HAADF STEM images II : Electron microscopy; ICEM 15
    Nakanishi, N. ; Yamazaki, T. ; et al.
    In: ELECTRON MICROSCOPY -INTERNATIONAL CONGRESS-, Jg. 1 (2002), S. 513-514
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Chemistry of planar faults in AO doped SrTiO~3 (A = Ca, Sr, Ba) resolved by image-warp processing of HAADF-STEM images : Electron microscopy; ICEM 15
    Sturm, S. ; Recnik, A. ; et al.
    In: ELECTRON MICROSCOPY -INTERNATIONAL CONGRESS-, Jg. 1 (2002), S. 495-496
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    The influence of focus on resolution and contrast variations in experimental HAADF-STEM images : Electron microscopy; ICEM 15
    Ceh, M. ; Sturm, S. ; et al.
    In: ELECTRON MICROSCOPY -INTERNATIONAL CONGRESS-, Jg. 1 (2002), S. 493-494
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Microstructural investigations of implant /bone interface between hydroxylapatite coated and uncoated shanz pins implanted into sheep femora : Electron microscopy; ICEM 15
    Cimerman, M. ; Coer, A. ; et al.
    In: ELECTRON MICROSCOPY -INTERNATIONAL CONGRESS-, Jg. 2 (2002), S. 639-640
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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