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    TID and Heavy-Ion Performance of an RHBD Multichannel Digitizer in 180-nm CMOS
    Quilligan, G. ; Aslam, S.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-07-01), S. 1414-1422
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    Dependence of Temperature and Back-Gate Bias on Single-Event Upset Induced by Heavy Ion in 0.2-μm DSOI CMOS Technology
    Han, Zhengsheng ; Zhang, Junjun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-08-01), S. 1660-1667
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    Effects of Bias and Temperature on the Dose-Rate Sensitivity of 65-nm CMOS Transistors
    Michelis, Stefano ; Costanzo, Sebastiano ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-05-01), S. 573-580
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    Displacement Damage Characterization of CMOS Single-Photon Avalanche Diodes: Alpha-Particle and Fast-Neutron Measurements
    Malherbe, Victor ; Serge De Paoli ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-05-01), S. 777-784
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    Study of SEU Sensitivity of SRAM-Based Radiation Monitors in 65-nm CMOS
    Leroux, Paul ; Thys, Sam ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-05-01), S. 913-920
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    Single-Event Effects Characterization of LC-VCO PLLs in a 28-nm CMOS Technology
    Gu, Cheng ; Patel, Maulik ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-09-01), S. 2042-2050
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    Shunt Regulator for the Serial Powering of the ATLAS CMOS Pixel Detector Modules
    Barrillon, P. ; Pangaud, P. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-02-01), S. 455-463
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    PETAL: A Multichannel Differential ADC Driver for High-Speed CMOS Image Sensors
    Grace, Carl ; Denes, Peter ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019-06-01), S. 955-959
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    Nonstable Latchups in CMOS ICs Under Pulsed Laser Irradiation
    Chumakov, Alexander I. ; Shvetsov-Shilovskiy, I. I. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-07-01), S. 1540-1546
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    Transistor Width Effect on the Power Supply Voltage Dependence of α-SER in CMOS 6T SRAM
    Alheyasat, A. ; Torrens, G. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-05-01), S. 811-817
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    Single-Event Upset Responses of Metal–Oxide–Metal Capacitors and Diodes Used in Bulk 65-nm CMOS Analog Circuits
    Andeen, Timothy ; Parsons, John ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-04-01), S. 698-707
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    A New Floating-gate Radiation Sensor and Readout Circuit in Standard Single-Poly 130-nm CMOS Technology
    S. M. Rezaul Hasan ; Zhang, Chaoping
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019-07-01), S. 1906-1915
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    Radiation Effects in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors: Variation of Photodiode Implant Dose
    Belloir, Jean-Marc ; Estribeau, Magali ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019-07-01), S. 1671-1681
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Single-Event Latchup in a CMOS-Based ASIC Using Heavy Ions, Laser Pulses, and Coupled Simulation
    Calvel, Pierre ; Marie, Xavier ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019-07-01), S. 1516-1522
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    Displacement Damage in CMOS Image Sensors After Thermal Neutron Irradiation
    Sergio Gabriel Suarez ; Fabricio Alcalde Bessia ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 65 (2018-11-01), S. 2793-2801
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    Fixed Pattern Noise and Temporal Noise Degradation Induced by Radiation Effects in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors
    Chen, Wei ; Ma, Wuying ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 65 (2018-06-01), S. 1264-1270
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    Total Ionizing Dose Effects on a Radiation-Hardened CMOS Image Sensor Demonstrator for ITER Remote Handling
    Cock, Wouter De ; Scott, Robin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 64 (2017-12-01), Heft 12, S. 101-110
    Online academicJournal
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    Total Ionizing Dose Radiation-Induced Dark Current Random Telegraph Signal in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors
    Rubaldo, Laurent ; Marcandella, Claude ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 64 (2017-12-01), Heft 12, S. 92-100
    Online academicJournal
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    Total-Ionizing Dose Effects on Charge Transfer Efficiency and Image Lag in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors
    Magnan, Pierre ; Rizzolo, Serena ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 64 (2017-12-01), Heft 12, S. 84-91
    Online academicJournal
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    65-nm CMOS Front-End Channel for Pixel Readout in the HL-LHC Radiation Environment
    Traversi, Gianluca ; Riceputi, Elisa ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 64 (2017-12-01), Heft 12, S. 2922-2932
    Online academicJournal
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