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    The Characteristics of Diamond Film Deposited by Magnet-Enhanced Plasma Jet CVD
    Wang, D. ; Zhou, K. ; et al.
    In: International Thermal Spray Conference, 1996-10-07
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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    Failure Analysis of Plasma-Induced Submicron CMOS IC Yield Loss by Backside Photoemission Microscopy
    Oh, C.K. ; Neo, S.P. ; et al.
    In: ISTFA 2001: Conference Proceedings from the 27th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2001-10-01
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Transmission Electron Microscopy (TEM) Specimen Preparation Technique using Focused Ion Beam (FIB): Application to Material Characterization of Chemical Vapor Deposition of Tungsten (W) and Tungsten Silicides (WSix)
    Fu, J.-M. ; Doong, K. ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 1997-09-01
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Diagnostics and Applications of an Innovative Plasma Torch Generating a Broad Plasma Jet
    Landes, K.D. ; Hartmann, R.
    In: International Thermal Spray Conference, 2000-05-08
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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