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  1. Rosa, Julien ; Bajolet, A. ; et al.
    In: 2014 International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2014-03-01
    Online unknown
  2. Javad Yavand Hasani
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, Jg. 35 (2016-09-01), S. 1509-1518
    Online unknown
  3. Tseng, Kai-Han ; Ou, Hung-Chih ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, Jg. 35 (2016-08-01), S. 1243-1254
    Online unknown
  4. Xie, Xinyun ; Ju, Jianhua
    In: 2016 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2016-03-01
    Online unknown
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -