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    A 0.004% resolution & SAT<1.8 μson-chip adaptive anti-aging system using cuckoo intelligence-based algorithm in 65 nm CMOS
    Zhang, Yuejun ; Wang, Pengjun ; et al.
    In: Integration, Jg. 78 (2021-05-01), S. 135-143
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    A comparative study of stability of switching voltage of CMOS inverters over wide operating temperatures
    Joseph, George M. ; T. A. Shahul Hameed
    In: Materials Today: Proceedings, Jg. 43 (2021), S. 3675-3678
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    A fully linear 5.2 GHz - 5.8 GHz digitally controlled oscillator in 65-nm CMOS technology
    Torkzadeh, Pooya ; Heydarzadeh, Siavash ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 90 (2019-08-01), S. 48-57
    Online unknown
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    Material analysis of high degree of variability in thin CMOS for SRAM current sense amplifier
    S. Raja Gopal ; Selvakumar, R. ; et al.
    In: Materials Today: Proceedings, Jg. 21 (2020), S. 299-306
    Online unknown
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    Performance improvement of chip-level CMOS-integrated ReRAM cells through material optimization
    Demirci, Tugba ; Leblebici, Yusuf ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 214 (2019-06-01), S. 74-80
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    A 68-nW novel CMOS sub-bandgap voltage reference circuit
    Wang, Zhen ; Lei, Jianming ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 89 (2019-07-01), S. 37-40
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    Various Issues and considerations for the Static Power Consumption in NANO-CMOS: Design Perspective
    Vaishali ; Ashwani Kumar Yadav ; et al.
    In: Materials Today: Proceedings, Jg. 10 (2019), S. 136-141
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    High performance CMOS level up shifter with full–scale 1.2 V output voltage
    Garcia, Jose C. ; Nooshabadi, Saeid ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 78 (2018-08-01), S. 11-15
    Online unknown
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    Analysis of Total Ionizing Dose effects for highly scaled CMOS devices in Low Earth Orbit
    Frank Sill Torres ; Hanif, Muhammad ; et al.
    In: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, Jg. 428 (2018-08-01), S. 30-37
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    Total-ionization-dose characterization of a radiation-hardened mixed-signal microcontroller SoC in 180 nm CMOS technology for nanosatellites
    Li, Yang ; Liu, H. ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 87 (2019-05-01), S. 65-72
    Online unknown
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    Statically triggered 3×VDD-Tolerant ESD detection circuit in a 90-nm low-voltage CMOS process
    Yu, Ningmei ; Liou, Juin J. ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 78 (2018-08-01), S. 88-93
    Online unknown
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Monolithic integration of GMR sensors for standard CMOS-IC current sensing
    A. De Marcellis ; Freitas, Paulo P. ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 135 (2017-09-01), S. 100-104
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    Intrinsic ESD robustness on new high voltage N/PMOS devices in 28 nm FDSOI UTBB CMOS technology through TLP/VFTLP characterizations
    Jacquier, Blaise ; Haendler, Sebastien ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 126 (2021-11-01), S. 114370-114370
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    Electrical and photo-stimulated characteristics of all-implanted CMOS compatible planar Si photodiode
    Ahmad, W. ; Ahmed, S. ; et al.
    In: Optik, Jg. 155 (2018-02-01), S. 297-300
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    Bias temperature instability in scaled CMOS technologies: A circuit perspective
    Kerber, Andreas ; Nigam, T.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 81 (2018-02-01), S. 31-40
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Investigation of negative DIBL effect for ferroelectric-based FETs to improve MOSFETs and CMOS circuits
    Li, Yangyang ; Wu, Zhenhua ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 114 (2021-08-01), S. 105110-105110
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    0.7 % error rate 3A bidirectional current sensor using high voltage CMOS process
    Lou, Pang-Yen ; Wang, Chua-Chin ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 114 (2021-08-01), S. 105127-105127
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    Low-voltage subthreshold CMOS current mode circuits: Design and applications
    Ismail, Yehea ; El-Ghitani, Hassan ; et al.
    In: AEU - International Journal of Electronics and Communications, Jg. 82 (2017-12-01), S. 251-264
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    Analysis and modeling of the semi-floating transistor based 1T pixel in CMOS image sensors
    Gao, Jing ; Li, Yi ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 69 (2017-11-01), S. 20-27
    Online unknown
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    Solution-processed organic–inorganic hybrid CMOS inverter exhibiting a high gain reaching 890
    Okamoto, Toshihiro ; Tsuzuku, Kotaro ; et al.
    In: Organic Electronics, Jg. 48 (2017-09-01), S. 127-131
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