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  1. In: PR Newswire, 2024-01-31
    Zeitungsartikel
  2. In: Network Weekly News, 2024-04-15, S. 1017
    Zeitungsartikel
  3. In: Grand Forks Herald (Grand Forks, ND), 2022-01-11
    Zeitungsartikel
  4. Frank, H. ; Colman-Meixner, C. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 10 (2022), S. 70204-70218
    Online academicJournal
  5. In: Technology News Focus, 2022-12-28, S. 2844
    Zeitungsartikel
  6. Basyoni, Marwa S. S. ; Zekry, A. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 9 (2021), S. 16958-16966
    Online unknown
  7. Koo, Yong-Seo ; Do, Kyoung-Il
    In: JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE, Jg. 21 (2021-04-30), S. 101-108
    Online unknown
  8. Distelhurst, Kevin ; Bader, Dan
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2021-10-31
    Online unknown
  9. In: GlobeNewswire, 2022-05-19
    Zeitungsartikel
  10. In: The Fly, 2020-07-07
    serialPeriodical
  11. In: Technology News Focus, 2022-01-12, S. 5916
    Zeitungsartikel
  12. Zhao, Qifeng ; Zhuang, Yiqi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 62 (2015-08-01), Heft 4, S. 1682-1688
    Online academicJournal
  13. Wier, B.R. ; Raghunathan, U.S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 62 (2015-07-01), Heft 7, S. 2244-2250
    Online academicJournal
  14. Stark, Bernard H. ; Mellor, Phil ; et al.
    In: IEEE Transactions on Industrial Electronics, Jg. 67 (2020-06-01), S. 4556-4566
    Online unknown
  15. Li, Zhaoji ; Lin, Feng ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 41 (2020-03-01), S. 453-456
    Online unknown
  16. Mahajan, Prantik ; Gauthier, Robert ; et al.
    In: 2021 43rd Annual EOS/ESD Symposium (EOS/ESD), 2021-09-26
    Online unknown
  17. Liu, Dong ; Ge, Xinglai ; et al.
    In: 2021 IEEE 16th Conference on Industrial Electronics and Applications (ICIEA), 2021-08-01
    Online unknown
  18. In: Business Wire, 2022-03-08
    Zeitungsartikel
  19. In: Business Wire, 2022-02-18
    Zeitungsartikel
  20. Tripathi, Ambuj ; Pradeep, T. M. ; et al.
    In: Radiation Effects and Defects in Solids, Jg. 174 (2019-09-20), S. 859-872
    Online unknown
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