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    2-D Photon-Detection-Probability Simulation and a Novel Guard-Ring Design for Small CMOS Single-Photon Avalanche Diodes
    Hsien, Chin-An ; Liu, Chun-Hsien ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-06-01), S. 2873-2878
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    Advancing Monolayer 2-D nMOS and pMOS Transistor Integration From Growth to Van Der Waals Interface Engineering for Ultimate CMOS Scaling
    Naylor, Carl H. ; Dorow, Chelsey ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-12-01), S. 6592-6598
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    Battery-Less Electronic Layer Detectors Array (ELDA) for In-Tool DUV Detection by FinFET CMOS Technology
    Chrong Jung Lin ; Lin, Wei-Hwa ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-10-01), S. 4972-4976
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    Low-Voltage, High-Brightness Silicon Micro-LEDs for CMOS Photonics
    Kramnik, Danielius ; Nong, H. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-08-01), S. 3870-3875
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    Benchmarking Silicon FinFET With the Carbon Nanotube and 2D-FETs for Advanced Node CMOS Logic Application
    Uttam Kumar Das ; Muhammad Mustafa Hussain
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-07-01), S. 3643-3648
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    A Study on the Isolation Ability of <u>LOC</u>al <u>O</u>xidation of <u>SiC</u> (LOCOSiC) for 4H-SiC CMOS Process
    Chia Lung Hung ; Yu Xin Wen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-12-01), S. 6644-6647
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    TCAD-Based Assessment of the Lateral GAA Nanosheet Transistor for Future CMOS
    Fossum, Jerry G. ; Ya Chi Huang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-12-01), S. 6586-6591
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    Demonstration of CMOS-Compatible Multi-Level Graphene Interconnects With Metal Vias
    Banerjee, Kaustav ; Agashiwala, Kunjesh ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-04-01), S. 2083-2091
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    Schottky-Embedded Silicon-Controlled Rectifier With High Holding Voltage Realized in a 0.18-μm Low-Voltage CMOS Process
    Peng, Bo-Wei ; Chang, Rong-Kun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-04-01), S. 1764-1771
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    3-D CMOS Chip Stacking for Security ICs Featuring Backside Buried Metal Power Delivery Networks With Distributed Capacitance
    Miura, Noriyuki ; Okidono, Takaaki ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-04-01), S. 2077-2082
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    Reconfigurable MoTe2 Field-Effect Transistors and its Application in Compact CMOS Circuits
    Chen, Jing ; Wu, Xiao-Ming ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-09-01), S. 4748-4753
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Analysis of Charge Transfer Potential Barrier in Pinned Photodiode of CMOS Image Sensors
    Sarkar, Mukul ; Khan, Uzma
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-06-01), S. 2770-2777
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    0.13 μm Low-Power CMOS Current Starved VCO for Vibration Energy Harvesters
    Mendes, Paulo ; Almeida, Goncalo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-05-01), S. 2167-2172
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    The Impact of Holding Voltage of Transient Voltage Suppressor (TVS) on Signal Integrity of Microelectronics System With CMOS ICs Under System-Level ESD and EFT/Burst Tests
    Shen, Yu-Shu ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-05-01), S. 2152-2159
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    Stand-by Power Reduction Using Experimentally Demonstrated Nano-Electromechanical Switch in CMOS Technologies
    Goel, Mayank ; Saha, Sumit ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-02-01), S. 746-752
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    Characteristics of Stacked Gate-All-Around Si Nanosheet MOSFETs With Metal Sidewall Source/Drain and Their Impacts on CMOS Circuit Properties
    Sung, Wen-Li ; Li, Yiming
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-06-01), S. 3124-3128
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    Random Telegraph Signal in n+/p-Well CMOS Single-Photon Avalanche Diodes
    Jiang, Wei ; M. Jamal Deen
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-06-01), S. 2764-2769
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    A CMOS Photodetector for Direct Color Imaging
    Audet, Yves ; Bendali, Abdelhalim ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-03-01), S. 1107-1114
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    A Sun-Tracking CMOS Image Sensor With Black-Sun Readout Scheme
    Kim, Hyeon-June
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-03-01), S. 1115-1120
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    Design and Simulation of Novel Low-Voltage CMOS Vertical Hall Devices With Capacitively Coupled Measuring Contacts
    Schrag, Gabriele ; Wachutka, Gerhard ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-12-01), S. 5653-5661
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xs 0 - 576
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