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993 Treffer

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    Absolute calibration up to 20 MeV of an online readout CMOS system suitable to detect high-power lasers accelerated protons.
    Burdonov, K. ; Lelièvre, R. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 94 (2023-08-01), Heft 8, S. 1-6
    Online academicJournal
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    An 8-Bit 1-GS/s Asynchronous Loop-Unrolled SAR-Flash ADC With Complementary Dynamic Amplifiers in 28-nm CMOS.
    Oh, Dong-Ryeol ; Moon, Kyoung-Jun ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 56 (2021-04-01), Heft 4, S. 1216-1226
    Online academicJournal
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    An Auto Offset Calibration Method for High-resolution Continuous CMOS Comparators.
    Guanguo, Wen ; Qiang, Long ; et al.
    In: Sensors & Materials, Jg. 35 (2023-07-30), Heft 7, Part 4, S. 2653-2668
    Online academicJournal
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    A CMOS Temperature Sensor with a Smart Calibrated Inaccuracy of ±0.11 (3σ).
    Wei, Rongshan ; Lin, Huishan ; et al.
    In: Sensors (14248220), Jg. 23 (2023-06-01), Heft 11, S. 5132-5145
    Online academicJournal
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    A 14-bit column-parallel two-step SA ADC with digital calibration based on scaled references and redundancy for CMOS image sensors.
    Li, Zhelu ; Xie, Ning ; et al.
    In: Analog Integrated Circuits & Signal Processing, Jg. 100 (2019-08-01), Heft 2, S. 295-309
    Online academicJournal
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    CMOS time-mode smart temperature sensor using programmable temperature compensation devices and ΔΣ time-to-digital converter.
    Krishna, R. S. S. M. R. ; Mal, Ashis Kumar ; et al.
    In: Analog Integrated Circuits & Signal Processing, Jg. 102 (2020), Heft 1, S. 97-109
    Online academicJournal
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    View record at Springer (Volltext)
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    A $192\times128$ Time Correlated SPAD Image Sensor in 40-nm CMOS Technology.
    Henderson, Robert K. ; Johnston, Nick ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 54 (2019-07-01), Heft 7, S. 1907-1916
    Online academicJournal
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  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    11 b 200 MS/s 28‐nm CMOS 2b/cycle successive‐approximation register analogue‐to‐digital converter using offset‐mismatch calibrated comparators.
    Lee, Jaehyuk ; Boo, Junho ; et al.
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 59 (2023-08-01), Heft 15, S. 1-3
    Online academicJournal
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    Energy-Efficient Motion-Triggered IoT CMOS Image Sensor With Capacitor Array-Assisted Charge-Injection SAR ADC.
    Choo, Kyojin David ; Xu, Li ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 54 (2019-11-01), Heft 11, S. 2921-2931
    Online academicJournal
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    A 65-nm CMOS 6-bit 2.5-GS/s 7.5-mW 8 $\times$ Time-Domain Interpolating Flash ADC With Sequential Slope-Matching Offset Calibration.
    Oh, Dong-Ryeol ; Kim, Jong-In ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 54 (2019), Heft 1, S. 288-297
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    A 250 MS/s 65.8-dB SNDR SAR ADC With Cross-Phase Common-Mode Feedback and Reconfigurable Inverter-Based Preamplifier in 28-nm CMOS.
    Yao, Bingbing ; Qiu, Lei
    In: IEEE Transactions on Circuits & Systems. Part II: Express Briefs, Jg. 69 (2022-12-01), Heft 12, S. 4674-4678
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    An IF-Sampling CMOS S/H Calibration Technique With Analog HPF Slope Estimation.
    Li, Yanqing ; Chiu, Yun
    In: IEEE Transactions on Circuits & Systems. Part II: Express Briefs, Jg. 69 (2022-12-01), Heft 12, S. 4639-4643
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    Subranging BJT-Based CMOS Temperature Sensor With a ±0.45 °C Inaccuracy (3 σ) From −50 °C to 180 °C and a Resolution-FoM of 7.2 pJ·K² at 150 °C.
    Wang, Bo ; Law, Man-Kay
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 57 (2022-12-01), Heft 12, S. 3693-3703
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    A 24 GHz CMOS Direct-Conversion RF Receiver with I/Q Mismatch Calibration for Radar Sensor Applications.
    Lee, Yongho ; Kim, Soyeon ; et al.
    In: Sensors (14248220), Jg. 22 (2022-11-01), Heft 21, S. 8246-8259
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    A Novel Autocorrelation Combined MM-CDR Time-Interleaved ADC Timing Calibration in 28 nm CMOS Technology.
    Gu, Youzhi ; Feng, Xinjie ; et al.
    In: Electronics (2079-9292), Jg. 11 (2022-10-01), Heft 19, S. 3198-3210
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A 80x60 Microbolometer CMOS Thermal Imager Integrated With a Low-Noise 12-B DAC.
    Kim, Ki-Duk ; Park, Seunghyun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Industrial Electronics, Jg. 69 (2022-08-01), Heft 8, S. 8604-8608
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    A 69-dB SNDR 300-MS/s Two-Time Interleaved Pipelined SAR ADC in 16-nm CMOS FinFET With Capacitive Reference Stabilization.
    Martens, Ewout ; Hershberg, Benjamin ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 53 (2018-04-01), Heft 4, S. 1161-1171
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    A 16-bit 16-MS/s SAR ADC With On-Chip Calibration in 55-nm CMOS.
    Shen, Junhua ; Shikata, Akira ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 53 (2018-04-01), Heft 4, S. 1149-1160
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    An Area-Efficient and Low-Power 12-b SAR/Single-Slope ADC Without Calibration Method for CMOS Image Sensors.
    Kim, Min-Kyu ; Hong, Seong-Kwan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-09-01), Heft 9, S. 3599-3604
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    A 3.8- µ W 1.5-NEF 15-GΩ Total Input Impedance Chopper Stabilized Amplifier With Auto-Calibrated Dual Positive Feedback in 110-nm CMOS.
    Park, Yongjae ; Cha, Ji-Hyoung ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 57 (2022-08-01), Heft 8, S. 2449-2461
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