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In: Microelectronics and reliability, Jg. 53 (2013), Heft 3, S. 349-355academicJournalZugriff:
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In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 52 (2005), Heft 8, S. 1780-1786Online academicJournalZugriff:
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In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 60 (2013), Heft 6, S. 1878-1883Online academicJournalZugriff: