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  1. NIBLOCK, T ; YATES, R. B
    In: Smart materials and structures (Harrogate, 6-8 July 1998), 1998, S. 709-714
    Konferenz
  2. BEDEKAR, Vishwas ; OLIVER, Josiah ; et al.
    In: Journal of physics. D, Applied physics (Print), Jg. 42 (2009), Heft 10
    Online academicJournal
  3. JUN, ZOU ; XUEFENG, WAN ; et al.
    In: Micro (MEMS) and nanotechnologies for space applications (19-20 April, 2006, Kissimmee, Florida, USA), 2006, S. 62230N.1
    Konferenz
  4. WANG, Yu-Hsiang ; CHEN, Chang-Pen ; et al.
    In: Sensor Technology, Jg. 6 (2009), Heft 3, S. 333-346
    Online academicJournal
  5. JI, Taeksoo ; JUNG, Soyoun ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 28 (2007), Heft 12, S. 1105-1107
    Online academicJournal
  6. SHUNG, J.-Y ; HSU, K. Y.-J ; et al.
    In: E-MRS Spring Conference, Symposium E: Thin Film Materials for Large Area Electronics, Jg. 337 (1999), Heft 1-2, S. 226-231
    Konferenz
  7. MCFEE, John E ; ACHAL, Steve ; et al.
    In: Detection and remediation technologies for mines and minelike targets X (28 March-1 April 2005, Orlando, Florida, USA), 2005
    Konferenz
  8. DO HWAN, KIM ; CHO, Kilwon
    In: Organic field-effect transistors V (13-15 August, 2006, San Diego, California, USA), 2006, S. 633607.1
    Konferenz
  9. NELSON, Ian C ; BANEJEE, Debjyoti ; et al.
    In: Micro (MEMS) and nanotechnologies for space applications (19-20 April, 2006, Kissimmee, Florida, USA), 2006, S. 62230O.1
    Konferenz
  10. HAISHENG, SAN ; YAN, LI ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 34 (2013), Heft 6, S. 789-791
    Online academicJournal
  11. HAISHENG, SAN ; HONG, ZHANG ; et al.
    In: Journal of micromechanics and microengineering (Print), Jg. 23 (2013), Heft 7
    Online academicJournal
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