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In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Jg. 11 (2011-06-01), S. 263-272Online unknownZugriff:
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In: 2011 11th IEEE International Conference on Nanotechnology, 2011-08-01Online unknownZugriff:
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In: 2010 IEEE 25th International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2010-10-01Online unknownZugriff: