Zum Hauptinhalt springen

Suchergebnisse

UB Katalog
Ermittle Trefferzahl…

Artikel & mehr
653 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Verlag

Publikation

Sprache

Geographischer Bezug

653 Treffer

Sortierung: 
  1. 이종환 ; 한현호 ; et al.
    In: 한국표면공학회 학술발표회 초록집, Jg. 2023 (2023-05-31), Heft 5, S. 37-37
    Konferenz
  2. Maryam, M. ; Suriani, A. B. ; et al.
    In: 2012 IEEE Colloquium on Humanities, Science and Engineering (CHUSER), 2012-12-01, S. 871-875
    Konferenz
  3. Tomita, Kosuke ; Kawakami, Naoaki ; et al.
    In: 2016 IEEE International Interconnect Technology Conference / Advanced Metallization Conference (IITC/AMC), 2016-05-01, S. 198-199
    Konferenz
  4. Terranova, Maria Letizia ; Gay, Stefano ; et al.
    In: 2015 1st Workshop on Nanotechnology in Instrumentation and Measurement (NANOFIM), 2015-07-01, S. 176-179
    Konferenz
  5. Wu, Tsung-Cho ; Chang, Shuo-Hung
    In: 2007 7th IEEE Conference on Nanotechnology (IEEE NANO), 2007-08-01, S. 379
    Konferenz
  6. Wisitsoraat, A. ; Tuantranont, A. ; et al.
    In: 2007 7th IEEE Conference on Nanotechnology (IEEE NANO), 2007-08-01, S. 185
    Konferenz
  7. Siti Norazian, I. ; Suraya, A.R. ; et al.
    In: 2013 IEEE Business Engineering and Industrial Applications Colloquium (BEIAC), 2013-04-01, S. 538-543
    Konferenz
  8. Thomas koilraj, T. ; Kalaichelvan, K.
    In: IEEE-International Conference On Advances In Engineering, Science And Management (ICAESM -2012), 2012-03-01, S. 429-433
    Konferenz
  9. Fontana, Marcio ; Liu, Yian ; et al.
    In: 2013 Microsystems for Measurement and Instrumentation: Fulfilling the Promise (MAMNA), 2013-05-01, S. 7-11
    Konferenz
  10. Xu, Bin ; Kato, Toshiaki ; et al.
    In: 2016 IEEE 16th International Conference on Nanotechnology (IEEE-NANO), 2016-08-01, S. 620-621
    Konferenz
  11. Sarkisov, Sergey Yu. ; Kosobutsky, Alexey V. ; et al.
    In: 2016 41st International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz waves (IRMMW-THz), 2016-09-01, S. 1-2
    Konferenz
  12. Maryam, M. ; Suriani, A. B. ; et al.
    In: 2012 10th IEEE International Conference on Semiconductor Electronics (ICSE), 2012-09-01, S. 141-144
    Konferenz
  13. Bakar, Suriani Abu ; Muhamad, Salina ; et al.
    In: 2012 IEEE Symposium on Business, Engineering and Industrial Applications, 2012-09-01, S. 377-381
    Konferenz
  14. Hoshino, K. ; Murakami, Y. ; et al.
    In: 17th IEEE International Conference on Micro Electro Mechanical Systems. Maastricht MEMS 2004 Technical Digest, 2004, S. 446-449
    Konferenz
  15. Yong-xiang, Liu ; Jun-hua, Liu ; et al.
    In: 2010 IEEE 5th International Conference on Nano/Micro Engineered and Molecular Systems, 2010, S. 671-675
    Konferenz
  16. Ren, Yanlai ; Zhu, D. ; et al.
    In: IVESC 2004. The 5th International Vacuum Electron Sources Conference Proceedings (IEEE Cat. No.04EX839), 2004, S. 159-162
    Konferenz
  17. Imaizumi, Y. ; Kushida, M. ; et al.
    In: IEEE International Symposium on Micro-NanoMechatronics and Human Science, 2005, 2005, S. 161-164
    Konferenz
  18. Kim, Sunkook ; Wang, Congjun ; et al.
    In: 5th IEEE Conference on Nanotechnology,, 2005, S. 868-871
    Konferenz
  19. Ryu, Hojin ; Hyung Kyun Yu ; et al.
    In: 4th Electronics Packaging Technology Conference,, 2002, S. 76-78
    Konferenz
  20. Stobinski, L. ; Chang, Yuan-Chih ; et al.
    In: 5th IEEE Conference on Nanotechnology,, 2005, S. 646-648
    Konferenz
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -