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79 Treffer

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    Une caractérisation de technologie CMOS à l’usage d’étudiants en cycle d’ingénieur
    Stefanelli, Bruno
    In: Annales Des Télécommunications, Jg. 46 (1991-09-01), Heft 9-10, S. 496-500
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record at Springer (Volltext)
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    Improving the optical performances of CMOS image sensors in the Near Infrared ; Etude de l'amélioration des performances optiques des capteurs d'images CMOS dans le proche infrarouge
    Bardonnet, Félix ; Microélectronics, ST ; et al.
    In: https://pastel.hal.science/tel-04114481 ; Optique [physics.optics]. Université Paris-Saclay, 2023. Français. ⟨NNT : 2023UPASP025⟩, 2023
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Etude de l'amélioration des performances optiques des capteurs d'images CMOS dans le proche infrarouge ; Improving the optical performances of CMOS image sensors in the Near Infrared
    Bardonnet, Félix ; Paris-Saclay, université ; et al.
    2023
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Développement et caractérisation de nouveaux procédés de passivation pour les capteurs d'images CMOS
    Ait Fqir Ali, Fatima Zahra
    2013
    Hochschulschrift
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  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Capteurs d'images CMOS à haute résolution à Tranchées Profondes Capacitives
    Ramadout, Benoit
    2010
    Hochschulschrift
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  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Développement d'un procédé innovant pour le remplissage des tranchées d'isolation entre transistors des technologies CMOS avancées
    Tavernier, Aurélien
    2014
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Caractérisation et modélisation de la fiabilité des transistors et circuits millimétriques conçus en technologies BiCMOS et CMOS
    Ighilahriz, Salim
    2014
    Hochschulschrift
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    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
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    Caractérisation et modélisation de UTBB MOSFET sur SOI pour les technologies CMOS avancées et applications en simulations circuits
    Karatsori, Theano
    2017
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Ultra-thin gate oxide reliability under Electrostatic Discharge (ESD) in deep sub-micrometer CMOS technologies
    Ille, Adrien ; Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (IM2NP) ; et al.
    2008
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Fiabilité des oxydes de grille ultra-minces sous décharges électrostatiques dans les technologies CMOS fortement sub-microniques
    Ille, Adrien ; Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (IM2NP) ; et al.
    2008
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Ultra-thin gate oxide reliability under Electrostatic Discharge (ESD) in deep sub-micrometer CMOS technologies ; Fiabilité des oxydes de grille ultra-minces sous décharges électrostatiques dans les technologies CMOS fortement sub-microniques
    Ille, Adrien ; Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (IM2NP) ; et al.
    In: https://theses.hal.science/tel-00407545 ; Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université de Provence - Aix-Marseille I, 2008. Français. ⟨NNT : ⟩, 2008
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Developpement of an innovative process for shallow trench isolation gap-filling of advanced CMOS technology nodes ; Développement d'un procédé innovant pour le remplissage des tranchées d'isolation entre transistors des technologies CMOS avancées
    Tavernier, Aurélien ; Laboratoire des technologies de la microélectronique (LTM) ; et al.
    In: https://theses.hal.science/tel-00987019 ; Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université de Grenoble, 2014. Français. ⟨NNT : 2014GRENT005⟩, 2014
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Développement d'un procédé innovant pour le remplissage des tranchées d'isolation entre transistors des technologies CMOS avancées ; Developpement of an innovative process for shallow trench isolation gap-filling of advanced CMOS technology nodes
    Tavernier, Aurélien ; Grenoble ; et al.
    2014
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Conception de micro-générateurs thermoélectriques planaires intégrant une topologie de thermopile 2.5D
    Bel-Hadj, Ibrahim ; Université de Lille ; et al.
    2022
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Electrical characterization and modeling of advanced nano-scale ultra thin body and buried oxide MOSFETs and application in circuit simulations ; Caractérisation et modélisation de UTBB MOSFET sur SOI pour les technologies CMOS avancées et applications en simulations circuits
    Karatsori, Theano ; Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC ) ; et al.
    In: https://theses.hal.science/tel-01690112 ; Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université Grenoble Alpes; Université Aristote (Thessalonique, Grèce), 2017. Français. ⟨NNT : 2017GREAT035⟩, 2017
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Caractérisation et modélisation de UTBB MOSFET sur SOI pour les technologies CMOS avancées et applications en simulations circuits ; Electrical characterization and modeling of advanced nano-scale ultra thin body and buried oxide MOSFETs and application in circuit simulations
    Karatsori, Theano ; Université Grenoble Alpes (ComUE) ; et al.
    2017
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Reliability characterization and modeling of transistors and millimetric waves circuits designed in BiCMOS and CMOS technologies ; Caractérisation et modélisation de la fiabilité des transistors et circuits millimétriques conçus en technologies BiCMOS et CMOS
    Ighilahriz, Salim ; Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC) ; et al.
    In: https://theses.hal.science/tel-01060162 ; Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université de Grenoble, 2014. Français. ⟨NNT : 2014GRENT016⟩, 2014
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Caractérisation et modélisation de la fiabilité des transistors et circuits millimétriques conçus en technologies BiCMOS et CMOS ; Reliability characterization and modeling of transistors and millimetric waves circuits designed in BiCMOS and CMOS technologies
    Ighilahriz, Salim ; Grenoble ; et al.
    2014
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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