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    Design of an APS CMOS image sensor for low light level applications using standard CMOS technology
    GOY, J ; COURTOIS, B ; et al.
    In: Selected papers on CCD and CMOS imagers, Jg. 177 (2003), S. 196-205
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Selected papers on CCD and CMOS imagers
    KANG, Moon Gi
    In: SPIE milestone series, Jg. 177 (2003)
    unknown
    Wie komme ich dran?
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    Solid-state image sensor: technologies and applications
    YAWCHENG, LO
    In: Selected papers on CCD and CMOS imagers, Jg. 177 (2003), S. 3-13
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    X-ray CCD response functions, front to back
    BAUTZ, M. W ; PRIGOZHIN, G. Y ; et al.
    In: Selected papers on CCD and CMOS imagers, Jg. 177 (2003), S. 589-601
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    X-ray CCD calibration system using fluorescent lines
    HAMAGUCHI, K ; MAEDA, Y ; et al.
    In: Selected papers on CCD and CMOS imagers, Jg. 177 (2003), S. 621-625
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    X-UV imaging with backside illuminated CCDs in laser-matter interaction experiments
    MENS, A ; BENATTAR, R ; et al.
    In: Selected papers on CCD and CMOS imagers, Jg. 177 (2003), S. 583-588
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    The quantitative effects of interface states on the performance of charge-coupled devices
    TOMPSETT, Michael F
    In: Selected papers on CCD and CMOS imagers, Jg. 177 (2003), S. 110-120
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    The invention of the CCD
    SMITH, George E
    In: Selected papers on CCD and CMOS imagers, Jg. 177 (2003), S. 14-18
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Sensitivity improvement in progressive-scan FT-CCDs for digital still camera applications
    VAN KUIJK, Harry C ; BOSIERS, Jan T ; et al.
    In: Selected papers on CCD and CMOS imagers, Jg. 177 (2003), S. 221-224
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Recent progress on CCDs for astronomical imaging
    GROOM, D. E
    In: Selected papers on CCD and CMOS imagers, Jg. 177 (2003), S. 422-433
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Noise sources in charge-coupled devices
    CARNES, J. E ; KOSONOCKY, W. F
    In: Selected papers on CCD and CMOS imagers, Jg. 177 (2003), S. 101-109
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Noise reduction techniques for CCD image sensors
    HOPKINSON, G. R ; LUMB, D. H
    In: Selected papers on CCD and CMOS imagers, Jg. 177 (2003), S. 121-129
    academicJournal
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    High speed multiplexed pipelined optoelectronic devices: CCDs and EBCCDs
    GRUWE, M
    In: Selected papers on CCD and CMOS imagers, Jg. 177 (2003), S. 44-47
    academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Free charge transfer in charge-coupled devices
    CARNES, James E ; KOSONOCKY, Walter F ; et al.
    In: Selected papers on CCD and CMOS imagers, Jg. 177 (2003), S. 25-35
    academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Dynamic suppression of interface-state dark current in buried-channel CCD's
    BURKE, Barry E ; GAJAR, Stephanie A
    In: Selected papers on CCD and CMOS imagers, Jg. 177 (2003), S. 130-135
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Charge diffusion in CCD X-ray detectors
    PAVLOV, George G ; NOUSEK, John A
    In: Selected papers on CCD and CMOS imagers, Jg. 177 (2003), S. 602-620
    academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    CCD on-chip amplifiers: Noise performance versus MOS transistor dimensions
    CENTEN, Peter
    In: Selected papers on CCD and CMOS imagers, Jg. 177 (2003), S. 136-146
    academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    An automatic light spectrum compensation method for CCD white balance measurement
    DAHONG, QIAN ; TOKER, James ; et al.
    In: Selected papers on CCD and CMOS imagers, Jg. 177 (2003), S. 209-213
    academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    A fast calculation algorithm for the charge transfer loss in CCDs
    KRAUSE, N ; BRIEL, U. G ; et al.
    In: Selected papers on CCD and CMOS imagers, Jg. 177 (2003), S. 214-220
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    A CCD-based optical CT scanner for high-resolution 3D imaging of radiation dose distributions: equipment specifications, optical simulations and preliminary results
    DORAN, Simon J ; KOERKAMP, Koen Klein ; et al.
    In: Selected papers on CCD and CMOS imagers, Jg. 177 (2003), S. 466-488
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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