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  1. Johnson, A.D. ; Ridgeway, R.G. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 17 (2004-11-01), Heft 4, S. 491-496
    Online academicJournal
  2. Lee, J.I. ; Park, H. ; et al.
    In: 2007 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2007-06-01, S. 102
    Konferenz
  3. Radecker, J. ; Weber, H.
    In: Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop, 2003 IEEEI/SEMI, 2003, S. 125-130
    Konferenz
  4. Nakamura, T.
    In: 2001 IEEE International Symposium on Semiconductor Manufacturing. ISSM 2001. Conference Proceedings (Cat. No.01CH37203), 2001, S. 117-120
    Konferenz
  5. Waeterloos, J. ; Cummings, S. ; et al.
    In: 2004 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop (IEEE Cat. No.04CH37530), 2004, S. 433-436
    Konferenz
  6. Jia, Hongyong ; Jin, Xiaojun ; et al.
    In: 1998 5th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology. Proceedings (Cat. No.98EX105), 1998, S. 135-138
    Konferenz
  7. Schmich, E. ; Driessen, M. ; et al.
    In: 2009 34th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC), 2009-06-01, S. 000175
    Konferenz
  8. Arita, Y. ; Awaya, N. ; et al.
    In: International Technical Digest on Electron Devices, 1990, S. 39-42
    Konferenz
  9. Ishii, K. ; Morita, T. ; et al.
    In: Proceedings of IEEE Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena - (CEIDP '93), 1993, S. 355-360
    Konferenz
  10. Lee, G.Y. ; Ivers, T.H. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE 1999 International Interconnect Technology Conference (Cat. No.99EX247), 1999, S. 152-154
    Konferenz
  11. Jeong, Y.H. ; Kim, G.T. ; et al.
    In: International Conference on Indium Phosphide and Related Materials, 1990, S. 344-347
    Konferenz
  12. Hong, Wan-Shick ; Jung, Kwan-Wook ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 25 (2004-06-01), Heft 6, S. 381-383
    Online academicJournal
  13. Wernersson, L. E. ; Kabeer, S. ; et al.
    In: International Semiconductor Device Research Symposium, 2003, 2003, S. 164-165
    Konferenz
  14. Igaki, J. ; Watanabe, K. ; et al.
    In: Digest of Papers. 2004 International Microprocesses and Nanotechnology Conference,, 2004, S. 254-255
    Konferenz
  15. Holber, W. ; Chen, X. ; et al.
    In: IEEE Conference Record - Abstracts. 1999 IEEE International Conference on Plasma Science. 26th IEEE International Conference (Cat. No.99CH36297), 1999, S. 158-158
    Konferenz
  16. Sarkozy, R. F.
    In: 1981 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers, 1981-09-01, S. 68
    Konferenz
  17. Carlsson, Jan-Otto
    In: ESSDERC '87: 17th European Solid State Device Research Conference, 1987-09-01, S. 347
    Konferenz
  18. Vartanian, V. ; Goolsby, B. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 17 (2004-11-01), Heft 4, S. 483-490
    Online academicJournal
  19. Liang, Chen ; Wang, Wenrong ; et al.
    In: The 8th Annual IEEE International Conference on Nano/Micro Engineered and Molecular Systems, 2013-04-01, S. 697-700
    Konferenz
  20. Gomez De Arco, L. ; Zhang, Y. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nanotechnology, Jg. 8 (2009-03-01), Heft 2, S. 135-138
    Online academicJournal
xs 0 - 576
sm 576 - 768
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